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最新产品 > 物理分析仪器 > 热分析仪器 > 热成像仪>福禄克Fluke热成像仪Ti40
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更新时间:2025-02-23 04:29:19 点击:454次
产品型号 | Ti40 |
---|---|
参考报价 | 返回顶部 面议 |
基本规格 | |
产品类型 | 返回顶部 热成像仪 |
品牌 | 返回顶部 福禄克Fluke |
产地 | 返回顶部 |
返回顶部 我来纠错(有奖) | |
技术参数 | |
温度测量范围 | 返回顶部 校准温度范围 Ti45: -20 ˚C ~ 600 ˚C (-4 ~ 1112 ºF),3档 Ti40: -20 ˚C ~ 350 ˚C (-4 ~ 662 ºF),2档 量程 1 Ti45: -20 ˚C ~ 100 ˚C (-4 ~ 212 ºF) Ti40: -20 ˚C ~ 100 ˚C (-4 ~ 212 ºF) 量程 2 Ti45: -20 ˚C ~ 350 ˚C (-4 ~ 662 ºF) Ti40: -20 ˚C ~ 350 ˚C (-4 ~ 662 ºF) 量程 3 Ti45: 250 ˚C ~ 600 ˚C (32 ~ 662 ºF) Ti40: - 可选 - 高温 Ti45: 最高 1200 ˚C (2192 ºF) Ti40: - 量程 4 Ti45: 500 ˚C ~ 1200 ˚C (932 ~ 2192 ºF) Ti40: - |
红外图像分辨率/温度测量分辨率(MFOV) | 返回顶部 0.1℃ |
温度分辨率热灵敏度(NETD) | 返回顶部 Ti45: ≤0.08 °C @30 °C Ti40: ≤0.09 °C @ 30 °C |
温度测量精度 | 返回顶部 0.1℃ |
工作波长 | 返回顶部 8 µm ~ 14 µm |
探测器 | 返回顶部 160 x 120焦平面阵列, 氧化钒 (VOx) 非致冷微热辐射仪 |
数字变焦 | 返回顶部 Ti45: 2x Ti40: - |
显示器 | 返回顶部 5英寸大屏幕高分辨率数字显示屏 |
对焦距离 | 返回顶部 最小聚焦距离* 0.15 m |
其他信息 | |
产品简介 |
美国福禄克 Fluke Ti40 热成像仪为工程师和专业技术人员的维护和生产工作带来更多选择 |
应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
技术创新 | FT系列产品采用最新的IR-Fusion™技术, IR-Fusion可捕获可见光图像和红外图像,让IR图像分析变得不再神秘.它可以帮助更好的识别和报告可疑组件,可在第一时间完成完成维修工作.详情请查看位于本页内容导航部分的IR-Fusion选项. 福禄克 Fluke Ti40 热成像仪的应用领域 • 预防性维护 – 在电气和机械问题导致设备故障前及时发现问题 • 工业维护 – 检查维修情况,保证维修工作顺利完成 • 质量控制 – 检查设备原型,优化热管理设计 • 过程监控 – 实时监控,确保操作高效安全完成 返回顶部 |
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