仪器为桌上型，温度范围 -100 ～ 1100℃。为了覆盖这一温度范围，提供了两种可自由切换的炉体。系统所使用的全新的红外传感器技术使得用户甚至可以在 -100℃ 的低温下测量样品背部的温升曲线。系统也能够测量较大体积的样品(直径 25.4mm)，或使用内置的自动样品切换器在一次升温中对多个样品进行测量。真空密闭系统使得仪器可以在多种用户可选的气氛中进行测量。样品支架、炉体与检测器的垂直式排布方便了样品的切换，同时使得检测信号拥有最佳的信噪比。LFA 457 的设计符合各类国际标准，如 ASTM E-1461，DIN EN 821 或 DIN 30905。
拥有非常出色的仪器控制与分析软件，在同类产品中颇为独特。对于检测器测得的温度-时间曲线的分析方法，用户能够在超过 15 种不同模型中进行选择，由此，几乎对所有的应用场合，如金属，陶瓷，聚合物，半透明材料或多层系统都能够以最优的方式进行分析。对大多数模型，都提供热损耗与有限脉冲修正，这对高精度的测试至关重要。这些模型建筑在非线性回归的基础上，将整条测量曲线(在 500 至 15000 个数据点之间)纳入计算。

温度范围：

低温炉体：-100 ～ 500℃ 
高温炉体：RT ～ 1100℃ 
测量范围：

热扩散系数：0.01 ... 10 mm2/s 
导热系数范围：0.1 ... 2000 W/(m*K) 
样品几何尺寸：

方形样品：8mm × 8mm, 10mm × 10mm 
圆形样品：直径 10mm, 12.7mm, 25.4mm 
厚度：0.05 ... 5mm 
样品切换器：最大样品数 3 （25.4mm 除外）

特殊样品支架：根据用户需要定制，用于测量粉末样品、液态样品或非标准尺寸的样品。

热扩散系数测量的速度与重复性已使得这一技术成为导热系数测量的首选方法，取代传统的稳态测量方法。若材料的比热 Cp 与密度ρ已知，则通过测量热扩散系数α，便可计算出材料的导热系数λ：

λ(T) = α(T)·Cp(T)·ρ(T)

材料的比热可在 LFA 中，通过比较法进行测量，也可使用差示扫描量热法 DSC，该方法测量比热更为方便、灵活，精度更高，且能提供关于材料的一些附加信息，如相转变温度与热焓等。

软件

NETZSCH LFA 457 MicroFlash™ 拥有非常出色的仪器控制与分析软件，在同类产品中颇为独特。对于检测器测得的温度-时间曲线的分析方法，用户能够在超过 15 种不同模型中进行选择，由此，几乎对所有的应用场合，如金属，陶瓷，聚合物，半透明材料或多层系统都能够以最优的方式进行分析。对大多数模型，都提供热损耗与有限脉冲修正，这对高精度的测试至关重要。这些模型建筑在非线性回归的基础上，将整条测量曲线（在 500 至 15000 个数据点之间）纳入计算。

 部分分析模型：

标准分析模型：Parker, Azumi, Clark-Taylor, Cowan, ... 
增强的 Cape-Lehman 模型：同步地将表面与径向热损耗，及有限脉冲效应纳入计算。 
辐射模型：将内部辐射热传送纳入计算。 
2 层与 3 层分析：将热损耗与有限脉冲修正纳入计算。

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蒽醌溶液的导热性能测试

层状样品的热传递性能的研究

石蜡相变材料 PCM 的熔融导热性能测试

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集成于 Proteus LFA 软件中的精确的比热分析工具.doc

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