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更新时间：2025-02-26 02:45:11 点击：3580次
| 产品型号 | Nanocute/E-SWEEP |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 扫描探针显微镜 |
| 品牌 | 返回顶部 日本精工电子 |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 类型 | 返回顶部 SPM,AFM |
| 图像分辨率 | 返回顶部 8192×8192 |
| 其他信息 | |
| 产品简介 | 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | Nanocute继承以前被公认的小型高刚度设计理念、再加上稳定性-高精度的追求，将先前的测量系统包括机台及光学部分使用最新的技术从根本进行了重新设计。其性能在配合同时开发的NanoNavi II - NanoNavi IIs控制系统的情况下发挥的淋漓尽致。还有由于装载新型自感应检测系统，使得从来无法得到的操作简易性得以实现。 E-SWEEP型为可控环境型，主要特点是： 扫描在封闭的Chamber中进行，可对测量的环境（高真空、高温、低温、液体、电化学等）进行控制。 专业级的真空Chamber，所有的部件都是针对高真空和高低温环境所设计； 最高分辨的可控环境SPM，是一款可实现原子级分辨的可控环境SPM； 适合各种金属、陶瓷及高分子材料在不同温度下的性能表征，温度范围宽且控制稳； 采用性能优异的磁悬浮分子泵，避免了真空系统对测量的影响，即使启动真空系统，设备也能进行高分辨稳定的测量； 高真空环境，保护高低温条件下的测量、消除空气对测量的影响、研究物质在高真空环境中的特殊性质； 双测温头设计，不仅测量样品台温度，而且能测量样品表面温度，彻底解决温度梯度导致的误差； 独特设计的控温台和扫描器，保证各种温度条件下稳定而高分辨的测量； L-trace II为大样品台型，能对6英寸或8英寸的样品直接测量，高度自动化，标配闭环扫描器。 返回顶部 |
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