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更新时间：2025-03-30 21:18:34 点击：807次
| 产品型号 | VK-X100/X200 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 激光共焦显微镜 |
| 品牌 | 返回顶部 KEYENCE基恩士 |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
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| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
创新点:VK-X100/X200集显微镜· SEM · 粗糙度仪的功能于一身,1 台机器便可以实现无与伦比的高分辨率大范围形状测量. ①以下问题全部得到改善：光学显微镜提升倍率后，难以对焦，分辨率不足。SEM前处理或样本尺寸等的准备烦琐，仅能以黑白色进行观察。粗糙度仪不能够实现一边放大观察，一边对工件部位实施非破坏性的凹凸测量。 ②创新功能： （A）兼顾高速· 高精度的图像连接WIDE-Scan 。最大放大24000倍，完全聚焦的清晰图像，测量结果符合国家标准溯源性。16bit激光彩色观察。非接触式设计，工件软硬兼可用。 （B）全自动测量AI-Scan：在全部的高度实现最佳调整，自动上下限设置，双扫描功能。对拍摄到的图像可自由测量。 |
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