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最新产品 > 物理分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 光学显微镜>CW2010Z轴测量显微镜 测维光电

更新时间:2025-02-20 12:33:02 点击:155次

产品型号 CW2010Z轴
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 光学显微镜
品牌 返回顶部 测维光电
产地 返回顶部 中国大陆
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技术参数
平像场物镜 返回顶部 超长物距平场物镜:PLL5X/0.12 WD 26.1, PLL10X/0.25 WD 20.2, PLL20X/0.40 WD 8.80, PLL50X/0.7 WD 3.68
普通目镜 返回顶部 高眼点平场目镜: WF10X/22
聚光照明系统 返回顶部 落射式照明系统: 卤素灯12V30W, 内置孔径光阑,五孔转盘滤色装置(黄、绿、蓝、磨砂)推拉式检偏器和起偏器
照明装置 返回顶部 卤素灯 亮度可调 6V30W(BD:12V50W)
换镜转盘 返回顶部 右倾式内定位5孔转换器
观察筒 返回顶部 铰链式三目头部 30°倾斜 270°旋转
x轴移动测量范围 返回顶部 X轴移动范围 200mm 解析率:0.001mm 可解锁手动快进
y轴移动测量范围 返回顶部 Y 轴移动范围 100mm 解析率:0.001mm 可解锁手动快进
测微器分度值 返回顶部 (3+L/100)mm
仪器重量 返回顶部 净重:100kg 毛重:120kg
仪器尺寸 返回顶部 380mm*550mm*830mm
Z轴升降范围 返回顶部 Z轴升降范围:手轮转动130mm 允许最高工件 130mm
其他信息
产品简介

Z轴测量显微镜以影像法为测量原理, 采用光学焦点位置检测方式进行非接触高低差测量。不仅可以对准目标影像, 还能观察测量点的表面状态,对高深度,高低差等进行测量。测量显微镜的各种镜筒还具有明暗场,微分干涉,偏光的观察功能。所以对极细微的间隙高低差,夹杂 物、微米以下的突起、细微划痕进行观察。

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技术创新 Z轴测量显微镜 特点: 以影像法为测量原理, 采用光学焦点位置检测方式进行非接触高低差测量。不仅可以对准目标影像, 还能观察测量点的表面状态,对高度,深度,高低差等进行测量。本仪器的各种镜筒还具有明暗场,微分干涉,偏光的观察功能。所以对极细微的间隙高低差,夹杂物、微米以下的突起、细微划痕进行观察。
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