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最新产品 > 物理分析仪器 > 热分析仪器 > 热膨胀系数测定仪>意大利ESS高温光学膨胀显微镜综...
更新时间：2024-12-16 07:03:55 点击：1042次
| 产品型号 | Misura HSML-OD T系列 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 热膨胀系数测定仪 |
| 品牌 | 返回顶部 意大利ESS |
| 产地 | 返回顶部 意大利 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 温度控制范围 | 返回顶部 高达1600度 |
| 升温速度程序控温 | 返回顶部 0.1-30C/min |
| 测定变形范围 | 返回顶部 HSML ±100% ODLT ±6% |
| 试样尺寸要求 | 返回顶部 HSML 3mm高和直径为2mm的圆柱体样品 ODLT 50x5x5mm |
| 气氛 | 返回顶部 空气或惰性气体 |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
Misura HSML-OD T系列 高温光学膨胀仪显微镜综合仪是世界上唯一可以同时高温测量样品的膨胀及烧结过程中 软化点，球状，半球状及融化温度及粘度的仪器设备。会聚了ESS得ODHT高温光学膨胀仪和 HSM系列高温显微镜产品的全部功能。特别适用于研究开发及各种工艺流程的确认等高端应用。 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 非接触式测量。直接测量样品至熔点 温度高达1600度 ● 测量样品热膨胀的绝对值，测量准确度可达 0.5 x 10-8 ● 仪器无须校正 ● 可对薄膜样品进行精确的测量，备有薄膜样品专用支架 ● 升温速率可高达80C/min， 测样效率高于同类产品数倍 ● 采用Laplace-Young公式法精确测定融化样品的表面张 ● 系统热膨胀自动校正功能，提高仪器精度 ● 功能强大的软件Misura, 热膨胀，玻璃化转变及膨胀系数的测量简便，准确。 返回顶部 |
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| 网友评分 |
评分：
4星：0人 3星：0人 2星：0人 1星：0人 返回顶部 |
|
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1楼:个人(gjyfn6xk)
可对薄膜样品进行精确的测量，备有薄膜样品专用支架
评论于:2014-06-10 10:03:34
2楼:个人(narcissus)
系统热膨胀自动校正功能，提高仪器精度。
评论于:2013-09-05 14:19:40
- 网友评论:
- 已有2条评论