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最新产品 > 物理分析仪器 > 颗粒度测量仪器 > 粒度分布测量仪>新型Millitrac颗粒图像分析仪 麦...
更新时间：2024-12-19 02:26:51 点击：199次
| 产品型号 | Millitrac |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 粒度分布测量仪 |
| 品牌 | 返回顶部 麦奇克/Microtrac |
| 产地 | 返回顶部 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 光源 | 返回顶部 Tri-Laser激光系统 |
| 光电探测器 | 返回顶部 固定多元检测器 |
| 测试范围 | 返回顶部 90 - 13,200µm |
| 重复精度 | 返回顶部 误差≤1.5% |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
美国Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析仪，原理上采用经典静态光散射技术和全程米氏理论处理，利用现代模块式设计理念，使用获得专利的 三激光光源技术，配备超大角度双镜头检测系统，以对数方式排列151个高灵敏度检测单元，无需扫描，平行通道实时接受散射光信息，提供准确可靠的测量信 息。多种分散方式可选，干法与湿法测量之间的转换，系统自动识别，方便快捷。S3500系列仪器完全符合ISO 13320-1粒度分析－激光衍射方法的 技术标准及21 CFR PART 11 安全要求，并被荣幸地指定为NIST标准物质认证仪器。 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | ﹡ 专利Tri-Laser激光系统, 完全消除了不同波长光源对颗粒散射光分布“连接点”的影响和 多次米氏理论（Mie Theory）数学处理的误差（米氏理论处理与波长有关）。 ﹡ 固定多元检测器与三激光光源的灵巧配置，无需扫描，同步接受全量程散射光信号，保证分 析结果的高重现性及全量程范围的高分辨率。 ﹡ 首家引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因子，内置常用分析物质光学数据库， 提高颗粒粒度分布测试的准确性。 ﹡ 系统自动对光，内置辅助光源用于检验和校正检测器的灵敏度。 ﹡ 多种样品分散系统可供选择，各种分散系统之间的转换简单方便，结果稳定一致。 ﹡ 现代模块式设计，可根据实际应用需要允许选择仪器的配置，以满足将来的任何需要。 ﹡ 数据处理灵活方便，体积分布，数量分布和强度分布，微分与累计百分比以及其他综合报告 形式任意组合，数据存储兼容性强。 ﹡ NIST(National Institute of Standards & Technology)标准物质指定认证仪器。 返回顶部 |
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