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最新产品 > 物理分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜>荷兰FEI 台式扫描电镜Phenom P...

更新时间:2025-01-20 11:02:29 点击:508次

产品型号 Phenom Pro Suite
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 扫描电镜
品牌 返回顶部 荷兰FEI
产地 返回顶部 荷兰
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技术参数
其他信息
产品简介

仪器简介:

Phenom Pro Suite是专为Phenom(飞纳)台式扫描电子显微镜SEM)设计的应用软件包,其开发目的是使用户可以从Phenom飞纳的SEM图像中提取更多信息,拓展Phenom的应用,满足特定的用户需求。

Phenom Pro Suite软件包安装在一部单独的PC机—Phenom应用系统上,而不是Phenom(飞纳)台式扫描电镜的嵌入式电脑上。这一设计保证了Phenom系统最佳的稳定性。



技术参数:

标准Phenom Pro Suite软件包的应用程序包括:

自动全景图像拼合:在用户指定区域内自动拍摄样品的一系列高倍图像,自动拼合为一副全景图像。

远程控制界面:通过网络,对Phenom进行远程操作。

MeasureIT(Olympus SIS)

选配组件:

3D粗糙度重建:通过3D粗糙度重建程序可以产生样品的3D效果图,并进行亚微米级的粗糙度测量。

纤维系统:用于纳米到微米量级纤维的精确分析。


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技术创新 自动全景图像拼合程序:  大视野(FOV)图像:最大视野8.07mm  极高分辨率的样品全景扫描:图片分辨率可达1亿像素  自动采集图片:每分钟采集超过100张图片  创新性的单页用户界面  可与纤维系统联用 远程控制界面:  实时远程控制:可在报告中演示实时图像  最直接的客服反馈:通过网络,Phenom的售后工程师可为您提过全面的保护  使不同地点同事间的合作变的十分便利 3D粗糙度重建: 适用于:机械加工的质量控制、纹理分析、证物鉴定、缺陷&失效分析、摩擦学-磨损分析  远优于光学或机械测量手段 - 高分辨率 - 可测量反射样品 - 直接测量 - 非破坏性  创新性全自动用户界面  基于“光影”技术,无需倾斜样品  可进行各种粗糙度测量,并自动生成统计信息  快速重建 纤维系统:  纤维系统使得直接观察和测量微米、纳米纤维变得前所未有的快捷、简单。结合Phenom台式扫描电子显微镜,纤维系统可以使您获得微米、纳米纤维的精确尺寸信息。  自动测量,几秒内完成数百次测量,节省时间  每张图片测量1-1000组数据自动生成统计数据  可以观察和测量从纳米到微米量级的纤维  同Phenom连接,可进行实时测量  数据可以标准格式导出
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