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更新时间:2025-01-20 11:02:29 点击:508次
产品型号 | Phenom Pro Suite |
---|---|
参考报价 | 返回顶部 面议 |
基本规格 | |
产品类型 | 返回顶部 扫描电镜 |
品牌 | 返回顶部 荷兰FEI |
产地 | 返回顶部 荷兰 |
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技术参数 | |
其他信息 | |
产品简介 |
仪器简介: Phenom Pro Suite是专为Phenom(飞纳)台式扫描电子显微镜(SEM)设计的应用软件包,其开发目的是使用户可以从Phenom飞纳的SEM图像中提取更多信息,拓展Phenom的应用,满足特定的用户需求。 Phenom Pro Suite软件包安装在一部单独的PC机—Phenom应用系统上,而不是Phenom(飞纳)台式扫描电镜的嵌入式电脑上。这一设计保证了Phenom系统最佳的稳定性。
标准Phenom Pro Suite软件包的应用程序包括: 自动全景图像拼合:在用户指定区域内自动拍摄样品的一系列高倍图像,自动拼合为一副全景图像。 远程控制界面:通过网络,对Phenom进行远程操作。 MeasureIT(Olympus SIS) 选配组件: 3D粗糙度重建:通过3D粗糙度重建程序可以产生样品的3D效果图,并进行亚微米级的粗糙度测量。 纤维系统:用于纳米到微米量级纤维的精确分析。 |
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产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
技术创新 | 自动全景图像拼合程序: 大视野(FOV)图像:最大视野8.07mm 极高分辨率的样品全景扫描:图片分辨率可达1亿像素 自动采集图片:每分钟采集超过100张图片 创新性的单页用户界面 可与纤维系统联用 远程控制界面: 实时远程控制:可在报告中演示实时图像 最直接的客服反馈:通过网络,Phenom的售后工程师可为您提过全面的保护 使不同地点同事间的合作变的十分便利 3D粗糙度重建: 适用于:机械加工的质量控制、纹理分析、证物鉴定、缺陷&失效分析、摩擦学-磨损分析 远优于光学或机械测量手段 - 高分辨率 - 可测量反射样品 - 直接测量 - 非破坏性 创新性全自动用户界面 基于“光影”技术,无需倾斜样品 可进行各种粗糙度测量,并自动生成统计信息 快速重建 纤维系统: 纤维系统使得直接观察和测量微米、纳米纤维变得前所未有的快捷、简单。结合Phenom台式扫描电子显微镜,纤维系统可以使您获得微米、纳米纤维的精确尺寸信息。 自动测量,几秒内完成数百次测量,节省时间 每张图片测量1-1000组数据自动生成统计数据 可以观察和测量从纳米到微米量级的纤维 同Phenom连接,可进行实时测量 数据可以标准格式导出 返回顶部 |
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