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最新产品 > 物理分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜>蔡司光学 过程控制用微粒分析工...
更新时间：2024-05-30 20:15:14 点击：452次
| 产品型号 | ParticleScan |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 扫描电镜 |
| 品牌 | 返回顶部 蔡司光学 |
| 产地 | 返回顶部 德国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
应用领域
专业颗粒分析方案 |
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| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 专业颗粒分析方案 用于重复分析的监控平台，如：加工过程的监控，质量控制和日常分析的应用 坚固耐用，灵活机动 适用于工业环境的设计，设备可快速安装或变换位置 可变压力扫描电子显微镜 在使用可变压力测量非导电颗粒或过滤得到的样品时的荷电补偿功能 SmartPITM软件 Smart Particle Investigator－集成的颗粒分析软件，用于自动分析和日常的分析，是一款使用方便的操作界面 集成的x射线能谱分析 用化学性质分类结合形态学的测量来进行颗粒的鉴定，一个简单的应用和使用者界面 高性能的扫描电子显微镜平台 带有卡尔.蔡司SmartSEM®软件时，可作为一台常规的SEM使用 返回顶部 |
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