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最新产品 > 化学分析仪器 > 质谱仪 > 其他质谱仪>ELEMENT GD双聚焦辉光放电...
更新时间:2024-12-19 19:47:13 点击:1904次
产品型号 | ELEMENT GD |
---|---|
参考报价 | 返回顶部 面议 |
基本规格 | |
产品类型 | 返回顶部 其他质谱仪 |
品牌 | 返回顶部 美国赛默飞世尔 |
产地 | 返回顶部 德国 |
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技术参数 | |
其他信息 | |
产品简介 |
ELEMENT GD是辉光放电离子源与高分辨质谱仪的结合,是直接分析导体材料的最佳工具。几乎所有在固体样品中出现的元素包括碳、氧和氮都可被检测和定量。许多元素可低至ppt(十亿分之一)水平。 |
应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
技术创新 | ● 快流速、高能量的辉光放电池 - 由于高溅射速度而缩短了分析时间 - 杰出的灵敏度 ● 体现了双聚焦质谱的技术发展水平 - 无与伦比的信噪比源自于高离子传输率和低背景,检测限可达亚ppb级 - 高水平的选择性和准确度取决于高分辨:一个无可争辩分析结果的先决条件 ● 大于12个数量级的检测范围 - 在一次扫描中检测痕量和基体元素,得益于大于12个数量级线性动态范围的自动检测器 - 直接测定基体元素用于离子束比值(IBR)定量 ● 艺术级的软件套件用于提高生产力和简单操作 - 所有参数计算机控制 - 完全自动化调谐、分析和数据采集 - LIMS连接自动数据传输 - 远程控制和诊断 - Microsoft® Windows® XP操作系统 ● 覆盖元素周期表的多种元素定量 ● 在一次扫描中,从基体到痕量元素的检测能力 ● 深度分布曲线 ● 影响直接定量的基体效应最小 返回顶部 |
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1楼:个人(xijianwei)
在一次扫描中检测痕量和基体元素,得益于大于12个数量级线性动态范围的自动检测器
评论于:2013-02-25 13:28:40
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