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最新产品 > 物理分析仪器 > 电子光学仪器 > 透射电镜>日本电子 200kV场发...

更新时间:2024-11-15 10:12:58 点击:366次

产品型号 JEM-2100F
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 透射电镜
品牌 返回顶部 日本电子
产地 返回顶部 日本
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技术参数
线分辨率 返回顶部 0.14nm
加速电压 返回顶部 80, 100, 120, 160, 200kV
点分辨率 返回顶部 0.19nm
其他信息
产品简介

仪器简介:
JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。

利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。
高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。

JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。

SJEM-2100F可与TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera实现一体化控制。



技术参数:
1.点分辨率:0.19nm
2.线分辨率:0.14nm
3.加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角:25
5.STEM分辨率:0.20nm


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技术创新 主要特点: 1.高亮度场发射电子枪。 2.束斑尺寸小于0.5nm。 3.新式侧插测角台,更容易倾转、旋转、加热和冷冻,无机械飘移。 4.稳定性好、操作简便。 5.微处理器和PC两套系统控制,防止死机。
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