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最新产品 > 物理分析仪器 > 电子光学仪器 > 透射电镜>日本电子 原子分辨分析型透射电镜 ...
更新时间：2024-11-14 18:45:18 点击：395次
| 产品型号 | JEM-ARM200F |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 透射电镜 |
| 品牌 | 返回顶部 日本电子 |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
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| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
技术参数： 1.分辨率：STEM 0.08 nm
原子分辨率 S/TEM 可以选配成像系统的球差校正器 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 原子分辨率 S/TEM 标配照明系统的球差校正器，STEM分辨率 0.08 nm, 为世界最高的商业化透射电镜，同时使其具有无与伦比的分析功能。 极强的抗干扰能力和超高稳定性 JEM-ARM200F采用多种新技术和设计确保实现原子级的分辨率和分析能力。 可以选配成像系统的球差校正器 点分辨率可以提高到 0.11 nm. 返回顶部 |
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