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最新产品 > 物理分析仪器 > 电子光学仪器 > 透射电镜>日本电子 冷场发射球差校正透射电...
更新时间：2024-11-12 12:08:48 点击：495次
| 产品型号 | JEM-ARM200F |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 透射电镜 |
| 品牌 | 返回顶部 日本电子 |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
日本电子株式会社2010年7月最新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。 传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题，并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时，能量分辨率提高到0.3eV，极大增强了原子级观察和原子级分析能力。 |
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