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更新时间:2024-12-17 19:16:59 点击:465次

产品型号 JEM-2800 
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 透射电镜
品牌 返回顶部 日本电子
产地 返回顶部
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技术参数
放大倍数 返回顶部 二次电子像 ×100 ~ ×150,000,000 扫描透射像 ×100 ~ ×150,000,000 透射像 ×500 ~ ×20,000,000
样品最大倾角 返回顶部 X 轴:±25°Y 轴:±30° (使用双倾样品杆)
其他信息
产品简介

操作自动化 功能一体化 周期短缩化

研究开发和量产工厂同样需要高通量的分析装置。

操作自动化

JEM-2800实现了电镜观察基本操作的自动化。只需按下相应的按钮,就可以对图像的亮度与衬度、样品高度(Z)、晶体取向、聚焦及象散进行调整。

分析一体化

JEM-2800的TEM模式、STEM模式、SEM模式及ED模式可在瞬间相互切换。在扫描模式下还可以同时进行STEM-BF像、STEM-DF像及SEM 像的观察。此外JEM-2800整合了EDS、EELS技术,能进行高效无缝地分析。

周期短缩化

JEM-2800功能丰富,能够容易地获取高通量的目标数据。快速的数据反馈,能加快开发速度,降低生产成本。

性能

最新设计的电子光学系统,兼顾了高分辨率观察和高速分析。为了能在短时间内获得准确的分析结果,还预先设置了最适合于样品及分析方法的探针电流 。
从TEM模式与STEM模式 的切换、视场搜索到高分辨率下的图像观察,不发生图像旋转和观察视野漂移等现象。因此,在所有的观察模式下都能够在短时间内便捷地进行观察与分析。

JEM-Navi

JEM-2800配备的新式操作导航系统JEM-Navi,与视频、控制面板用户界面 实现了联动,即使是电镜初学者也能放心操作。

分辨率
二次电子像 (edge to edge 边际至边际) ≦0.5nm (加速电压200kV 时)
扫描透射像 0.2nm (加速电压200kV时)
透射像(晶格像) 0.1nm (加速电压200kV时)
放大倍率 ( 24 吋宽屏LCD 上)
二次电子像 ×100 ~ ×150,000,000
扫描透射像 ×100 ~ ×150,000,000
透射像 ×500 ~ ×20,000,000
电子枪
电子枪 肖特基场发射电子枪
加速电压 200kV・100kV
样品台系统
样品台 全对中测角样品台
样品尺寸 3mmΦ
最大倾斜角度 X 轴:±25°Y 轴:±30° (使用双倾样品杆)
样品移动范围 X,Y:±1.0mm Z:±0.2mm  (马达驱动)
选配件
可安装的主要选配件 能谱仪 (EDS)
能量损失谱仪(EELS)
CCD 相机
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