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最新产品 > 物理分析仪器 > 电子光学仪器 > 透射电镜> 日本电子 透射电子显微镜 JEM...
更新时间：2024-12-16 16:29:51 点击：510次
| 产品型号 | JEM-3100F |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 透射电镜 |
| 品牌 | 返回顶部 日本电子 |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 放大倍数 | 返回顶部 x60 - x1,500,000 |
| 点分辨率 | 返回顶部 0.17nm |
| 线分辨率 | 返回顶部 0.1nm |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
JEM-3100F具有世界同档次最高分辨率0.17nm。采用最先进的数字化控制系统，操作更简单。应用范围非常广泛。 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | » 分辨率达到0.17nm,是这一级别电镜中最好的。 » 理想的分析用高亮度,高稳定性的肖特基电子枪。 » 最新的5轴马达驱动测角器加强样品台精确度。 » 操作简易的全数字化控制。 » 加载JEOL生产的扫描透射(STEM)系统和能谱仪(EDS)可升级为支持微区元素分析 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
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| 网友评分 |
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