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更新时间：2024-11-12 22:00:10 点击：495次

产品简介
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技术参数

产品型号

HD-2700

参考报价

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基本规格

产品类型

返回顶部透射电镜

品牌

返回顶部【Hitachi】

产地

返回顶部日本

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技术参数

加速电压

返回顶部 200KV

放大倍数

返回顶部 100x -10,000,000

样品室体积

返回顶部 X,Y=±1mm

样品最大倾角

返回顶部 ±30°(单倾样品杆)

其他信息

产品简介

电镜球差校正技术的实用化，使得同时进行超高分辨率观察和超高灵敏度分析成为可能。日立高新技术公司与CEOS公司共同的努力，成功地开发出了新一代扫描透射电子显微镜(STEM)。
HD-2700通过球差校正，用大会聚角获得了亚纳米级电子束，在分辨率和分析性能获得重大的进步。
HD-2700共有三种型号，分别是配有球差校正的高分辨型和标准型，以及无球差校正型，可根据应用需求选择。

技术指标
项目	描述
分辨率 (晶格分辨率)	1、配有球差校正的标准型 0.144nm，电子枪：冷场或热场
	2、配有球差校正的高分辨型 0.136nm，电子枪：冷场
	3、无球差校正型 0.204nm，电子枪：热场
加速电压	200KV
放大倍率	100x -10,000,000
图像模式	图像模式相衬度像(TE像)
	原子序数衬度像(ZC像)
	电子衍射花样(可选)
	特征X射线像(可选：EDX)
	EELS像(可选：ELV-2000)
电子光学	电子枪	场发射电子源，内置阳极加热器
	透镜系统	两级聚光镜、物镜、投影镜
	球差校正器	六极/传输双重（标准型和高分辨型）
	扫描线圈	两级电磁线圈
	电位移	0.5μm
样品杆	类型	侧插式
	移动范围	X,Y=±1mm，T=±30°(单倾样品杆)
操作系统	Windows XP

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应用范围

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用户数

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技术创新

1.高分辨观察 *利用金颗粒保证0.144nm分辨率DF-STEM像（标准型） 2.增加了探针电流(约为非校正的STEM探针电流的10倍)，可以进行高速、高灵敏度能谱分析 *可以在更短的时间内获得元素的面分布图 *检测微量元素成为可能 3.简化的操作 *提供了专用的GUI自动调节球差校正器 4.整体的解决方案 *样品杆与日立FIB兼容，提供了纳米尺度的整体解决方案：从制样到数据获得和最终分析 5.多种评价/分析功能可选 *同时获得和显示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像 *可以配备ELV-2000型实时元素Mapping系统(DF-STEM像可以同时获得) *实时衍射(DF-STEM像和衍射像可以同时观察) *低剂量功能可以减少由电子束造成的样品破坏/污染 *可以配备超微柱头样品杆进行三维分析(360度旋转) *精确的放大倍率校准功能

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