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最新产品 > 物理分析仪器 > 电子光学仪器 > 电子探针>Bruker 扫描探针显微系统 ...
更新时间：2024-12-14 11:35:37 点击：527次
| 产品型号 | Dimension Icon |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 电子探针 |
| 品牌 | 返回顶部 Bruker |
| 产地 | 返回顶部 美国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
仪器简介： 最新一代 Dimension系列 AFM
X-Y方向扫描范围：90um *90um典型值，最小85um
|
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 主要特点： 结合Veeco最新的行业领先的针尖-扫描AFM技术，Icon的温度补偿定位传感器使Z轴的的噪音水平达到亚-埃米级，X-Y方向达埃米级。在大样品台、90微米扫描范围系统的仪器当中，这种表现是非常突出的，优于绝大部分的开环、高分辨率AFM系统的噪音水平。 Icon不仅具有非常好的分辨率，它还具备许多新的特性，以增加新老AFM用户操作仪器的便捷性及出图像速率： • 专利设计的扫描管，实现闭环扫描功能同时，具有开环扫描管的噪音水平，在大样品AFM系统中实现前所未有的分辨率 • 全新设计的XYZ闭环扫描管，在不影响图像质量下具有非常高的扫描速度，具有非常快的数据采集能力 • 最新的NanoScope软件版本，提供直观的操作流程及默认实验模块，将复杂的AFM操作流程转化为预先设置 • 高分辨率的照相机及X-Y定位，实现更迅速、更有效的样品定位 • 完全开放的针尖及样品环境，适用于绝大部分的标准或定制实验 • 硬件及软件设置适用Veeco现有的及即将推出的所有模式及技术，包括现有的最先进的HarmoniX纳米材料性能成像模式 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
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