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更新时间:2024-12-19 16:12:07 点击:1360次

产品型号 EPMA-1600
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 电子探针
品牌 返回顶部 日本岛津
产地 返回顶部 日本
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技术参数
分辨率 返回顶部 二次电子像分辨率:6nm
探测元素范围 返回顶部 4Be~94Pu
探针束流稳定度 返回顶部 好于1.5×10-3/H
X射线取出角 返回顶部 52.5°
其他信息
产品简介

仪器主要特点及技术指标:

l       分析元素范围: 4Be~94Pu

l       电子束流稳定性:好于1.5×10-3/H

l       二次电子像分辨率:6nm

l       加速电压:0~30kV

l       X射线检出角:52.5°

l       放大倍数:50×~300,000×

l       分析速度:自动全元素定性分析时间≤60s

l       最大样品尺寸:100mm´100mm´50mm

l       样品台最小移动间距为0.01微米,机械系统精密度高

l       可观察二次电子像(SEI),背散射电子像(BEI),吸收电子像,光学显微像,X射线面分布像等。兼顾微区成分定量分析和形貌观察

仪器主要功能及其用途:

l       非破坏分析(分析时,被分析样品不会损坏,可以实现同点重复分析)

l       微米尺度的空间分辨分析

l       轻元素的定量分析

l       元素的面分布分析

l       痕量元素的成分分析

l       精细结构分析
l       适用于材料(陶瓷,合金,半导体材料等)以及矿物、岩石等固体材料的微区化学组成定性和定量分析,微区化学组成线分析,微区化学组成面分析以及材料、矿物和岩石等的微区形貌观察、成分分布图像等,是对试样微区组织结构,表面形貌观察及元素定量分析的最有效手段。

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1楼:个人(uaz869uv)
可观察二次电子像(SEI),背散射电子像(BEI),吸收电子像,光学显微像,X射线面分布像等
评论于:2014-06-09 15:54:21