NTEGRA Prima为你的研究带来无限自由。该系统既可以用来研究小尺寸的、也可以大尺寸的、甚至巨大的样品。NT-MDT的双扫描模式（DualScan）使SPM扫描范围可达到200µm，扫描头作为一个可移动的、独立装置，使得测量不受样品尺寸限制成为可能。

NTEGRA Prima的标准配置包括在大气环境甚至液体环境中得到原子分辨图像的基本配置。NTEGRA Prima不仅提供了所有传统技术，例如形貌、相位、磁力测量，它还包括许多NT-MDT独一无二的技术，例如，NT-MDT扫描电容显微镜，它以史无前例的精度（1aF）对样品表面电荷载流子浓度的变化进行成像，创造了电容测量的国际标准。NT-MDT的另一项专有技术原子力声学显微镜（AFAM），是对弹性进行高级研究的最新工具，它只需附加一个简单易安装的附件。AFAM利用局域弹性，可以对畴和结构进行直接的、非破坏性的成像，还可以对杨氏模量和其它如粘弹力、摩擦力在内的表面参数进行直接、定量地测量。

在原子尺度工作时，定位精度非常的关键。为了确保精度，所有NTEGRA 系列产品都特别的设计了内置、闭环的电容传感器。即使当扫描区域小到50×50nm，因其超低的噪音水平（典型值小于0.1nm）仍然能在使用内置传感器的情况下对样品表面进行成像和修饰。可靠的扫描反馈确保可高精度的定量测量针尖和样品表面间的相互作用力。

对于NTEGRA而言，NTEGRA Prima 仅仅只是一个基础、核心，它所创建的纳米实验室设计了完全开放的硬件、软件和信号集成的结构，为与其它仪器集成提供了接口和平台。它可以和高级光谱仪、超薄切片机、大规模筛选（high-throughput screening）以及加热附件等结合，形成新一代的集成分析仪器。无论你需要的是简单的还是更加的完善和复杂的SPM，NTEGRA Prima都能提供良好的平台，保证你成功的成像和测量。

 应用介绍

 生物学和生物技术
蛋白质、 DNA、病毒、细菌、组织等
材料科学
表面形貌形态、压电性质、粘滞力分析、摩擦特性分析等
磁材料
磁畴结构成像、观察因外部磁场引起的磁性的反转、不同温度下的磁结构变化等
半导体和电学性质测量
硅片等材料的表面形貌、表面电势和电容测量、表面电荷分布图、掺杂浓度分析、失效分析（局域导电性和绝缘层漏电流）
聚合物和有机薄膜
球状或柱状晶体、聚合物单晶材料、聚合物纳米颗粒、LB 膜、有机薄膜等
数据存储
CD, DVD 盘
纳米材料
纳米粉体、纳米复合材料、纳米多孔材料、
纳米结构材料
富勒烯、碳纳米管、纳米丝、纳米胶囊

纳米电子学
量子点、纳米线、量子结构
纳米机械学
AFM 纳米刻蚀：力（直流电和交流电）、电流（局部阳极氧化）、STM 纳米刻蚀
纳米操纵
接触力

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