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最新产品 > 物理分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜>日本电子 聚焦离子束(FIB)（F...
更新时间：2024-12-18 18:09:42 点击：634次
| 产品型号 | JIB-4500 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 扫描电镜 |
| 品牌 | 返回顶部 日本电子 |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 分辨率 | 返回顶部 FIB 分辨率: 5nm, 30kV SEM分辨率: 2.5nm, 30kV (LaB6) |
| 样品台移动范围 | 返回顶部 X/Y 76 mm, Z 5 to 48 mm T -10 to 90度 R 360 度 |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
仪器简介：
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JIB-4500是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。它采用六硼化镧灯丝，可以对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体，应用范围广泛。 技术参数： FIB 分辨率: 5nm, 30kV |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 主要特点： 1.监控、切割、组装和三维图像重构连续操作 2大束流，最大30nA 3.提供空前稳定的图像 4.低真空功能适用于非导体样品 5.气体注入系统用于刻蚀和沉积 6.最大装样 150 mm 7.气锁式样品交换 8.五轴全对中样品台 9.多个样品分析接口 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
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| 网友评分 |
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