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最新产品 > 物理分析仪器 > 探伤仪器 > 超声探伤仪>汉威 便携式TOFD超声波检测仪 H...
更新时间：2024-12-21 10:43:45 点击：249次
| 产品型号 | HS800 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 超声探伤仪 |
| 品牌 | 返回顶部 汉威 |
| 产地 | 返回顶部 中国大陆 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 频率 | 返回顶部 采样频率：125M ，重复频率：125HZ |
| 增益范围 | 返回顶部 0dB~110dB（0.1dB、2.0dB、6.0dB步进，全自动调节） |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
P扫描成像即投影成像，一改传统机械编码器定位方式，采用全新四通道声定位系统，避免各种外界磁场干扰，对探头声束精确定位。内置闸门高度及DAC曲线两种灵敏度成像模式，同时显示C扫描图像（俯视）、D扫描图像（侧视）、B扫描图像（平视）、A扫描图像，可对缺陷进行空间位置和形状上的评估。
独立工作通道：可根据仪器配置选择通道数，最多可选7个通道
最多连接探头： 10
脉冲类型：负放电脉冲
增益范围： 110dB（0.1dB、2.0dB、6.0dB步进，全自动调节）
声速范围：(300~20000)m/s
波形显示方式：射频波，检波（全检、负或正半检波），信号频谱（FFT）
扫描延时：0~500us可控0.008us精度
扫查定位：时基（内置实时时钟-0.02秒精度）/真实位置（增量编码器-0.5mm精度）
成像模式：根据选择的操作模式和相应的仪器设置显示厚度B扫、B扫、D扫、P扫、TOFD图象
直线扫查长度：50~2000mm自动滚屏
记录方法：完全原始数据记录
离线分析：恢复和回放扫查时记录的A扫波形
缺陷尺寸和轮廓
厚度/幅度数据统计分析
记录转换到ASCⅡ/MS Word/MS Excel格式报告 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | HS800性能特点 A 特优点 全中文菜单操作模式，方便快捷 超高亮彩色液晶显示器 超声衍射波探伤，解决传统探伤单次扫查区域的局限性和不直观性 缺陷A扫、厚度B扫、B扫、P扫、D扫全屏直观显示 便携扫查器代替手工扫查，探伤更快、更精确 多通道TOFD探伤，实现焊缝非平行扫查一次性全面覆盖 超大机内存储空间，探伤数据回放及离线分析 高性能安保锂电，模块插接，一机两电，超长续航 B 数字电路 采样频率：125M 频率带宽：0.5~15MHZ 采样延时：1200mm 脉冲电压：-400V 脉冲前沿：15ns 重复频率：125HZ 匹配阻抗：25Ω、500Ω2档可调 检波方式：数字检波方式 增益范围：0dB~110dB（0.1dB、2.0dB、6.0dB步进，全自动调节） 闸门数：每通道2个位 C 扫描范围 多路TOFD检测和PE检测全面覆盖200mm厚度以内焊缝的分区扫查 D 探伤功能 扫查方式：可对焊缝进行全面的平行和非平行扫查 缺陷定位：数据分析线能直接读出缺陷深度以及非点状缺陷的自身高度 焊缝内部缺陷显示：直观显示焊缝中缺陷的位置和上下端点位置 A型扫描：射频显示提高仪器对材料中缺陷模式的评价能力 B型扫描：实时显示缺陷截面形状 D型扫描：实时显示缺陷的灰度扫查图，直观显示缺陷并对缺陷模式进行评价 E数据存储与输出 1通道、5通道、7通道三种可选，预先调校好各类探头与仪器的组合参数，方便存储、离线分析、复验、打印、通讯传输 超大内存容量，单次扫查即能记录长达2米被检工件内部缺陷的检测图 支持USB、LAN、VGA输出 返回顶部 |
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