技术参数：     
测试通道数: 64通道（可扩展到256通道）
总线隔离信号信道数: 4通道or 8通道
实时比对功能: 需有二个64通道, 或128通道
输出驱动电压: TTL/CMOS 标准
输出驱动电流: 电流依不同的逻辑电平阈值有下列区分
                   一般H-L 80mA @ 0.6V
                   一般 L-H 200mA @ 2V
                   Max. 400mA
驱动电压转换比: >100V/µs
电压范围: +/-10V
输入阻抗: 10k
逻辑形态: 三态或开集极开路 (内定或由程序设定)
驱动逻辑形态: Low, high, 三态 (tri-state)
过电压保护范围: <0.5V, >5.5V
最长测试时间: 根据被测元器件而定
测试方式: 在线及离线测试 (需外接离线测试盒)

电源供给规格参数      
自动供给电源输出: 1 x 5V @ 5A 固定式( 2 x 5V @ 5A 固定式 for 128信道)
过电压保护: 7V
过电流保护: 7A

测试模式      
单次(Single): 单次测试
循环(Loop): 反复测试, 或条件式循环测试(PASS或FAIL)
自动扫描测试: 可找到较为严格的逻辑电平阈值

逻辑电平阈值设定规格参数      
最小调整解析: 00mV
低信号位准Low levels: TTL 0.1V to 1.1V
                                  CMOS 0.1V to 1.5V
转态位准Switching levels: TTL 1.0V to 2.3V
                                        CMOS 1.0V to 3.0V
高信号位准High levels: TTL 1.9V to 4.9V
                                  CMOS 1.9V to 4.9V
扫描低逻辑范围Swept low levels: TTL 0.1V to 1.1V
                                                  CMOS 0.1V to 1.5V
扫描逻辑转态范围Swept switching levels: TTL 1.2V
                                                              CMOS 2.5V
扫描高逻辑范围Swept high levels: TTL 1.9V to 4.9V
                                                  CMOS 1.9V to 4.9V

测试功能及参数     　
集成电路功能测试 根据测试库的功能进行测试，根据元件的原理和真值表进行测试
元器件连接特性测试     　
　     短路状态侦测 Short circuit detection
　     悬浮（浮接）状态侦测 Floating input detection
　     开路状态侦测 Open circuit detection
　     连接状态侦测 Linked pin detection
电压量测Voltage: 最小解析 10mV 范围 +/-10V
　     具逻辑状态侦测 Logic state detection
VI曲线测试: 测试通道数64 – 256（扩展）
电压设定范围 -10V to +10V (可自行设定)，可以设置非对称电压扫描
最大测试电流 1mA
曲线拐点系数: 管脚的v-i曲线图中的拐点图形，随温度产生变化的系数，对于判定温漂的故障元件非常有帮助

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