仪器参数：

数字集成电路测试参数规格
测试通道数: 64通道可扩展到256通道/6500可扩充2048通道
总线隔离信号通道数: 4通道or 8通道
实时比对功能: 需有二个64通道, 或128通道
输出驱动电压 ：TL/CMOS 标准
输出驱动电流: 电流依不同的逻辑电平阈值有下列区分
                    一般H-L 80mA @ 0.6V
                    一般 L-H 200mA @ 2V
                   Max. 400mA
驱动电压转换比: >100V/μs
电压范围: +/-10V
输入阻抗: 10k
逻辑形态: 三态或开集极开路(内定或由程序设定)
驱动逻辑形态: Low,high,三态(tri-state)
过电压保护范围: <0.5V,>5.5V
最长测试时间: 根据被测元器件而定
测试方式: 在线及离线测试(需外接离线测试盒)
测试功能及参数     参数主要区别
集成电路功能测试 ：根据元件原理和真值表进行功能测试
元器件连接特性测试 ：短路状态侦测
                               悬浮(浮接)状态侦测
                               开路状态侦测
                               连接状态侦测:6500可以自定义仪器输出通道的电压范围(-10~+10v),模拟仿真测试范围更加广泛.
电压测量 ：最小解析10mV范围+/-10V
具逻辑状态侦测
VI曲线测试: 测试通道数64 256(扩展)
电压设定范围-10Vto+10V(可自行设定),可以设置非对称电压扫描
最大测试电流 1mA
曲线拐点系数: 管脚的v-i曲线图中的拐点图形,随温度产生变化的系数,对于判定温漂的故障元件非常有助
电源供给规格参数：
自动供给电源输出: 1 x 5V @ 5A 固定式（2x5V@5A固定式for128信道)
过电压保护: 7V
过电流保护: 7A
测试模式      
单次(Single): 单次测试
循环(Loop): 反复测试,或条件式循环测试(PASS或FAIL)
自动扫描测试: 可找到较为严格的逻辑电平阈值
逻辑电平阈值设定规格参数
最小调整解析: 100mV
低信号位准: TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V
转态位准: TTL 1.0V to 2.3V/CMOS 1.0V to 3.0V
高信号位准: TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V
扫描低逻辑范围: TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V
扫描逻辑转态范围: TTL 1.2V/CMOS 2.5V
扫描高逻辑范围: TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V

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