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更新时间：2024-12-18 18:48:11 点击：366次

产品简介
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技术参数

产品型号	2500
参考报价	返回顶部面议
基本规格
产品类型	返回顶部集成电路测试仪
品牌	返回顶部英国ABI
产地	返回顶部英国
	返回顶部我来纠错（有奖）
技术参数
显示方式	返回顶部 V-I,V-T,I-T
其他信息
产品简介	仪器参数：测量通道：24测试通道探笔通道:2通道实时对比测试信号通道:2通道同步脉冲信号测试电压范围:2 V to 50 V peak to peak:2/4/6/8/10/20/30/40/50V 电压分辨率:8 to 12 bits 测试频率范围:37.5 Hz to 12 kHz:37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600/750/960/1.2k/1.5k/2.4k/3k/4.8k/6k/12kHz 信号电流范围:1 μA to 150 mA 测试阻抗范围:100Ω to 1MΩ：100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ 测试信号波形:正弦波、三角波、斜波显示图形模式:V-I,V-T,I-T 矩阵测试:各个管脚间的VI曲线测试波形自动对比:可利用实时量测双通道来自动实时对比好坏组件的波形,或将波形进行存储后,再进行比对. 同步脉冲输出:正向(Positive),负向(negative)或双向(bipolar)波形同步信号振幅:可调式由+10V～ -10V 返回顶部
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应用范围	返回顶部此仪器尚未有相关应用
用户数	返回顶部此仪器尚未有用户数
技术创新	适合模拟及数字集成电路的测试. 可进行在线或离线测试与分析. 具有24路测试通道. 安全性高的无电源测量方式. 矩阵式V-I曲线测试,可针对管脚间的阻抗曲线进行测试. 在进行离线测试时,可针对芯片内部进行阻抗分析. 自动对比及储存曲线. 可切换VI,VT及IT三种显示模式,可配合不同功能型式的FET元器件. 可设定同步脉冲信号的宽度,进行可控硅元器件或FET的功能测试. 可进行光电耦合器及继电器元器件的速度功能测试. 具有二组信号源,可输出直流信号,针对光电耦合器及继电器进行稳态测试. 并且显示相似度百分比,具有业界中最多的信号频率文件位,对于故障的查找有相当大的帮助. 测试频率高达到12kHz,非常适合测试电感及高频电容器件. 本系统具备自动信号补偿功能,可针对测试环境及夹具进行自校测试,以防止量测信号失真. 可由软件来进行维修日志的编写. 可由软件加入图片,用来清楚的表示量测位置及电路板样式. 可选择利用USB或PCI通讯接口来进行仪器的操作,也可安装在PC内来节省所占的空间. 返回顶部
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