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更新时间:2024-12-16 09:51:02 点击:6002次

产品型号 ABI-2400
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 数字电路测试系统
品牌 返回顶部 英国ABI
产地 返回顶部 英国
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技术参数
测试频率 返回顶部 37.5 Hz to 12 kHz
电压分辨率 返回顶部 8 to 12 bits
电流范围 返回顶部 1 μA to 150 mA
电压范围 返回顶部 2 V to 50 V peak to peak
其他信息
产品简介

V-I 测试能力

量测通道:24 多任务信道+2实时对比通道+2同步脉冲信号信道
信号电压范围:2 V to 50 V peak to peak
电压分辨率:8 to 12 bits
信号频率范围:37.5 Hz to 12 kHz
信号电流范围:1 μA to 150 mA
信号阻抗范围:100 Ohm to 1 M
测试信号波形:Sine, square, triangle, ramp, pulse
显示图形模式:V-I, V-T, I-T
量测波形自动对比功能:可利用实时量测双通道来自动实时对比好坏组件的波形,或是将波形进行存储之后,再进行比对工作.
同步脉冲输出模式:正向(Positive), 负向(negative)或双向(bipolar)波形
同步信号振幅:可调式由+10 V~-10V
信号校正:自动

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技术创新 1)适合各种类型的测试,模拟及数字集成电路及各种分立器件的测试 2)可进行在线或离线测试与分析 3)具有24路测试通道,也可使用探棒进行巡检测试,针对各种类型的封装元件进行测试。 4)安全性高的无电源测量方式,不用给电路板加电,系统自动施加各种类型的测试条件,最大可能地保证测试安全。 5)多种测试类型:1)简单类型V-I曲线测试,针对固定某一管脚的不同管脚的测试,2)矩阵式V-I曲线测试模式, 可针对管脚间的阻抗曲线进行测试。提供了丰富的测试信息,保证的测试的可靠性。 6)在进行离线测试时, 可针对蕊片内部进行阻抗分析 7)自动对比及储存V-I曲线,以备日后调取,方便了元件库的建立 8)可切换VI,VT及IT三种显示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件 9)可设定同步脉冲信号的宽度, 进行可控规元器件或FET的功能测试 10)可进行光耦合及继电器元器件的速度功能测试 11)具有二组信号源, 可输出直流信号, 针对光耦合器及继电器进行稳态测试. 12)显示相似度百分比,具有业界中最多的信号频率调整档位, 对于故障的查找有相当的帮助. 13)测试频率高达到12kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件 14)系统具备自动信号补偿功能, 可针对测试环境及夹具进行自校测试, 以防止量测信号失真. 15)可进行维修日志的编写,将维修记录长期保存,以备日后查看。 16)可由软件加入图片, 用来清楚的表示被测元件的位置及电路板样式. 17)可选择利用USB或PCI通讯接口来进行仪器的操作, 也可安装在PC内来节省所占的空间.
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