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最新产品 > 特种检测仪器 > 射线检测仪器 > 射线/污染探测计 >英国 X射线线阵探测系统 XDAS...

更新时间:2024-12-18 20:43:46 点击:562次

产品型号 XDAS-V2系列
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 射线/污染探测计
品牌 返回顶部 英国
产地 返回顶部 英国
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技术参数
探测器间距 返回顶部 0.4mm,0.8mm,1.6mm,2.5mm
积分时间(单次采样) 返回顶部 100us – 50ms
数据传输 返回顶部 USB、千兆以太网或标准图像采集卡
其他信息
产品简介

X射线线阵探测系统由硅光二极管阵列和闪烁晶体组成,以实现对射线能量的探测。二极管阵列可以是一维或者两维扫描方式,由具体应用来决定。选择探测器需充分考虑了光谱响应,电容,暗电流,灵敏度,探测面积以及串扰的影响,选用与闪烁晶体的发射波段相匹配的探测器,并尽可能降低暗噪声,减小偏移量,获得最好的响应。同时,让各探测单元的探测面积和串扰达到最优化。

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用户数 返回顶部 此仪器尚未有用户数
技术创新 XDAS-V2系列---小于1Mev 采用专利的小信号搜集技术,产品质量好,性能稳定。多种探测器间距(0.4mm,0.8mm,1.6mm,2.5mm等)、单能/双能可选,晶体的种类和尺寸可选。模块化设计,每套系统中最多包含7块SP板,每块SP板可连接24块DH板,最高21500个探测通道。16bit 数据输出。信噪比高,不带探测器的信噪比可达30000:1。扫描速度快,100us的脉冲成型时间。多种信号输出接口可选。
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