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最新产品 > 化学分析仪器 > 光谱仪 > 紫外可见分光光度计>上海光谱 紫外可见光谱反射仪 ...
更新时间：2024-12-23 18:25:53 点击：256次
| 产品型号 | 1700 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 紫外可见分光光度计 |
| 品牌 | 返回顶部 上海光谱 |
| 产地 | 返回顶部 中国大陆 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 光谱范围/波长范围 | 返回顶部 190.0~1100.0 nm |
| 波长准确度 | 返回顶部 ±1 nm |
| 杂散光 | 返回顶部 ≤0.3%T |
| 带宽 | 返回顶部 0.5、1、2、4 2nm |
| 吸光度范围 | 返回顶部 0~200.0%T， 0.300~3.000A，0~9999C |
| 基线平直度 | 返回顶部 ±0.004A (200-1000nm，预热半小时后) |
| 仪器尺寸 | 返回顶部 400×700×330mm |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
主要用途和适用范围 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 主要技术特点 绝对反射专利测量技术： 这是一款用于测量各种形状的光学元件透射率、相对反射率、绝对反射率的专用仪器。 仪器由光学测量工作站软件控制，反射角度可在22.5-90º范围内任意可调，360º范围内任意设置样品被测角度，以满足不同形状元件的测量透射率、反射率的要求。 仪器改变了传统的分光光度计测量方法。首创了检测器移动和样品测量架旋转技术，测量时，无需构建复杂的光路和专用的测量附件，从而提高了仪器的信噪比，简化了操作过程。结合专为光学测量设计的工作站软件，可显示透射率、反射率曲线，自动检测峰高，等高点等数据。 该技术已申请发明专利和实用新型专利，并已被国家专利局正式受理。 经典的光学系统 经典的自准式、大光通量单色光路，长寿命高反射光学部件，1200条/毫米高性能衍射光栅，长光程检测光束，高灵敏度检测器和高性能信号处理系统。仪器由SPWin-optical紫外可见光谱反射仪工作站控制。 多种狭缝宽度可调 狭缝可调型产品，有0.5、1、2、4nm等4种光谱带宽可选。 根据样品需要可选择不同的光谱带宽，满足各种测试精度的需要。 返回顶部 |
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| 网友评分 |
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|
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1楼:个人(Christian)
多种狭缝宽度可调,狭缝可调型产品，有0.5、1、2、4nm等4种光谱带宽可选。
评论于:2013-02-21 15:53:55
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