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最新产品 > 计量仪器 > 表面测量仪器 > 台阶仪>小坂研究所株式会社 台阶仪 ET400...
更新时间：2024-12-18 17:41:35 点击：826次
| 产品型号 | ET4000 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 台阶仪 |
| 品牌 | 返回顶部 小坂研究所株式会社 |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 分辨率 | 返回顶部 Z: 0.1 nm X: 0.01 μm |
| 测量范围 | 返回顶部 100 μm X: 100 mm (Y stroke: 150 to 400 mm) |
| 测量精度 | 返回顶部 1 σ within 0.5 nm |
| 最大工件尺寸 | 返回顶部 210 × 210 mm to 300 × 400 mm |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
仪器简介： |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | Excellent in accuracy, stability and functionality, ET4000 is a fully automatic, most appropriate for measurement of micro figure, step height and roughness of FPD, wafers, hard disks, and other nano-order application. ET4000 series can be selected from a number of models according to applications. ET4000A: Multifunctional and automatic ET4000L: Fully automatic, compatible with large precision glass or wafer size sample ET4000M: Reasonable, high performance and general-use 返回顶部 |
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