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最新产品 > 计量仪器 > 表面测量仪器 > 台阶仪>台阶仪 P16

更新时间:2024-12-18 08:59:28 点击:1461次

产品型号 P16
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基本规格
产品类型 返回顶部 台阶仪
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产地 返回顶部 美国
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技术参数
其他信息
产品简介

产品简介
P-16型表面轮廓仪(又叫:台阶仪或膜厚仪)可以为多种不同表面提供全面的两维和三维形貌分析特性。

产品详细信息
P-16型表面轮廓仪可以为多种不同表面提供全面的两维和三维形貌分析特性,包括半导体硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、精加工表面、光电子、薄膜/化学涂层、生物医学器件和平板显示。仪器运行于Windows® XP操作平台,使用金刚石探针接触测量的方法来实现高精度表面形貌分析应用。拥有简洁直观的操作界面,P-16能够精确可靠地量测出台阶高度、表面粗糙度、细微波纹度及其他的基片形貌参数。三种不同的测量头配置可以满足各种表面形貌分析的需求,同时具有顶视和侧视镜头使得样品的定位更趋于简单。

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