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最新产品 > 计量仪器 > 光学计量仪器 > 折光仪>美国鲁道夫 折光仪 J457
更新时间:2024-12-18 04:52:12 点击:183次
产品型号 | J457 |
---|---|
参考报价 | 返回顶部 面议 |
基本规格 | |
产品类型 | 返回顶部 折光仪 |
品牌 | 返回顶部 美国鲁道夫 |
产地 | 返回顶部 美国 |
返回顶部 我来纠错(有奖) | |
技术参数 | |
测量范围 | 返回顶部 折光指数:1.26 – 1.72、糖度Brix:0 – 100 |
精确度 | 返回顶部 折光指数:0.00001, Brix 0.01 |
温度测量范围 | 返回顶部 10°C to 100°C |
温度测量精确度 | 返回顶部 ±0.01°C |
显示 | 返回顶部 10.4 寸, 800-600 像素, 彩色液晶显示器 |
温度控制方式 | 返回顶部 半导体控温 |
电源 | 返回顶部 100 - 240 volts, 50 Hz - 60 Hz |
工作环境 | 返回顶部 5°C to 40°C |
重量 | 返回顶部 10.4 kg |
仪器尺寸 | 返回顶部 L: 43.5cm W: 30.5cm H: 33cm |
其他信息 | |
产品简介 |
仪器简介: |
应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
技术创新 | 1. 所有的 J457系列折光仪都配有 Smart Measure™ 智能测量技术,可以自动检测,样品池是否清洗干净,当样品池没有完全清洗干净,样品量不够时,或者仪器校准不正确时,都可以通过智能测量技术检测出来。并实时报警。 2. 所有的 J457系列折光仪都配有半导体帕尔贴超级双温度控制系统. J457可以通过样品池表面和样品盖二个方面来加热或制冷样品。 3. 适用于各种环境中,有防水防尘设计,壁挂式设计,以及分体式设计。满足不同的实验室环境的要求。 返回顶部 |
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