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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 电解式测厚仪>日本大崎 电解式测厚仪 CT-3
更新时间：2024-12-19 16:34:24 点击：422次
| 产品型号 | CT-3 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 电解式测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 日本大崎 |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 厚度范围 | 返回顶部 0.006～300 um |
| 测量速度 | 返回顶部 125、12.5、1.25nm/sec |
| 测量面积 | 返回顶部 3.4、2.4、1.7∮mm |
| 仪器重量 | 返回顶部 1.8kg |
| 仪器尺寸 | 返回顶部 200（W）*150（H）*150（D）mm |
| 电源 | 返回顶部 AC110V（220V）/50,60Hz |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
产品说明： 可测金属镀层：金、银、化学镍、铟、硬铬、装饰铬、锌、 镉、锡、 铅、铜、钴、镍、铁、多重镍、黑铬 可测合金镀层：锡锌合金、锡铅合金、铜锌合金、镍钴合金、镍铁合金 祥细规格： 1.测量范围：0.006～300 um 2.最消解析度：0.001 um 3.测量面积：3.4、2.4、1.7∮mm 4.电解速度：125、12.5、1.25nm/sec 5.测量单位：um、nm、二种 6.灵敏度调节：5段可调 7.本体尺寸：200（W）*150（H）*150（D）mm 8.本体重量：1.8kg 9.误差可校正范围：±15％ 10.使用电压：AC110V（220V）/50,60Hz 返回顶部 |
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| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 1.各种镀层(多层、合金)的精密测量； 2.除平板形外，还可以通过提供的图表测量圆形、棒形（细线）等各种形状 3.可高精度测量其它方式不易测量的三层以上的镀层； 4.可制作非破坏式膜厚仪的标准板； 5.可检查非破坏式膜厚仪的测量精度; 6.最新产品，精度提高，简单易懂，操作及保养容易。 7.标准板校正值的计算和设定可自动进行； 8.三档测量速度, 可以准确测量极薄镀层厚度 9.可分离测量铜(合金)上的锡(合金)镀层间的扩散(合金)层; 10.独特的测量台(电测公司专利)是利用条形弹簧方式,使操作方便简单. 返回顶部 |
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