搜索
热门供应商
该产品暂无相关的供应商
PK的排行更多
- 台湾路昌 振动...
- 日本理音 测振仪...
- 日本理音 激...
- 美国康塔仪器 ...
- 北京拓必拓 微...
- 上海舜宇恒平 在...
- 荷兰Skalar...
- 德国德尔格 ...
- 北京拓必拓 超...
- 日本Kanoma...
最新更新的同类仪器更多
最新产品 > 物理分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 原子力显微镜>Park Systems 原子力显微镜 XE-...
更新时间：2024-12-15 20:42:13 点击：689次
| 产品型号 | XE-70 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 原子力显微镜 |
| 品牌 | 返回顶部 Park SYSTEMS |
| 产地 | 返回顶部 美国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 分辨率 | 返回顶部 同步自动采集16幅图像，分辨率高达4096×4096像素 |
| 扫描范围 | 返回顶部 50µm×50µm（闭环），可选配100µm×100 µm（闭环 |
| 移动范围 | 返回顶部 25mm×25mm（X/Y），27.5mm (Z) |
| 样品尺寸 | 返回顶部 100mm×100mm |
| 数据传输 | 返回顶部 采用基于TCP/IP协议的通讯方式与计算机联接 |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
考虑到众多预算有限用户对高性能AFM的需求,Park Systems精心设计并推出了XE-70这款经济型高性能AFM。XE-70果断放弃了部分成本较高的调节马达，坚决保留了所有XE系列产品的创新技 术，并保证该款机型可与XE系列产品的各种扩展功能组件和选配件完全兼容。
标准工作模式： 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 一、计量精确 XE系列AFM彻底消除了球面误差，因而具备了实现精确纳米计量的能力。 二、扫描器线形度高，直角正交 XE系列AFM采用了柔性扫描器最大限度减小了X和Y扫描运动的交叉耦合，并且通过位移传感器及时进行反馈控制，这就有效保证了扫描的准确度和精度。 三、非接触式扫描 可真正实现非接触式扫描是Park AFM最显著的技术优势。采用这一模式扫描时，针尖和样品间距可以保持在几个纳米，在避免针尖磨损的同时提高了成像质量。 四、CrN样品测试结果 CrN样品具有点状尖锐的特点，是常用的AFM探针性能测试样品。如采用轻敲模式进行扫描，10次后图像质量就因针尖磨损而明显下降。在非接触扫描实验中，扫描100次后图像细节依然清晰，证明针尖没有受到损伤。 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
| 相关视频 | 返回顶部 此仪器尚未有相关视频 |
| 相关耗材和配件 | 此仪器尚未有相关耗材和配件 返回顶部 |
| 相关仪器 | 返回顶部 此仪器尚未有相关仪器 |
| 网友评分 |
评分：
4星：0人 3星：0人 2星：0人 1星：0人 返回顶部 |
|
该产品暂无相关的供应商 |
暂无评论
- 网友评论:
- 已有0条评论