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最新产品 > 物理分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 原子力显微镜>AFM Workshop 原子力显微镜 NP-...
更新时间：2024-12-18 00:25:01 点击：1905次
| 产品型号 | NP-AFM |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 原子力显微镜 |
| 品牌 | 返回顶部 AFM Workshop |
| 产地 | 返回顶部 美国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 样品尺寸 | 返回顶部 200mmX200mmX20mm |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
NP-AFM原子力显微镜
NP-AFM是一套完整的纳米形貌系统，它包括扫描样品所需的所有附件：显微镜平台，电子控制箱，电脑，探针，手册和视频显微镜。最大样品可达到200mmX200mmX20mm，同时为了适应更多样品的测试，我们提供几种扫描平台可供选择。 - 纳米形貌AFM针对于技术样品，晶片和盘。 - 提供三种样品台，以满足不同样品的测试，最大范围可达200mmX200mmX20mm。 - 集成高分辨率视频显微镜。 - XY线性方向压电陶瓷扫描器。 - 提供标准尺寸AFM探针。 - 包括振动和非振动模式，侧向力模式和相位成像模式。 - 使用电机直接驱动针尖逼近。 - 使用LabVIEW-based软件直观的获取图像。 该系统使用工业标准轻杠杆力传感器，包括了所有的标准扫描模式。振动模式用于高分辨率和较软的样品；非振动模式用于常规扫描。包括了相位模式和侧向力模式。
LabVIEW作为控制软件，可以很容易和直观的使用。整个扫描过程为用户提供了不同的窗口：预扫描窗口帮助校准探针，扫描窗口用于获取图像，力位置窗口收集图像，系统窗口可以设置系统参数。
可以使用NP-AFM作为技术样品的常规扫描，比如晶片，盘，或者纳米技术的研究。
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