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更新时间：2024-05-31 18:07:01 点击：4293次

产品简介
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技术参数

产品型号

XL2 700

参考报价

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基本规格

产品类型

返回顶部 X射线荧光光谱仪

品牌

返回顶部美国赛默飞世尔

产地

返回顶部美国

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技术参数

检测器

返回顶部高性能Si PIN探测器

种类

返回顶部塑料模式（Plastic mode) 19种标准元素： Cl（氯），Ti（钛），V（钒），Cr（铬），Fe（铁），Ni（镍），Cu（铜），Zn（锌），As（砷），Se（硒），Br（溴），Cd（镉），Sn（锡），Sb（锑），Ba（钡），Au（金），Hg（汞），Pb（铅），Bi（铋）。合金模式（Alloy mode） 28种标准元素： Al（铝），Ti（钛），V（钒），Cr（铬），Mn（锰），Fe（铁），Co（钴），Ni（镍），Cu（铜），Zn（锌），Se（硒），Br（溴），Zr（锆），Nb（铌），Mo（钼），Pd（钯），Ag（银），Cd（镉），In（铟），Sn（锡），Sb（锑），Hf（铪），Ta（钽），Pt（铂），Au（金），Hg（汞），Pb（铅），Bi（铋）。

仪器尺寸

返回顶部 256 x 275 x 100 mm (10.25 x 11 x 4 in)

电源

返回顶部 6芯可充电锂电池

仪器重量

返回顶部 1.53 kg(3.0 lbs5.8oz)

其他信息

产品简介

仪器简介：

Niton XL2 700系列X射线荧光分析仪是应对艰难测试应用的可靠之选。该款为消费品分析专业打造的设备运用专利基础参数法（FP法）和TestAllTM技术，无须用户输入，实现对于塑料，聚合物和金属合金样品，以及焊锡的快速、准确分析。

技术参数：

仪器参数
重量 3Ibs 5.8 oz(1.53 kg)
尺寸 10.25×11×4 In.(256×275×100 mm)
射线管银极管最大45 kV，最大80 μA
探测器高性能半导体
系统电子元件 400 MHz ARM 11 CPU
300 MHz 专用DSP
80 MHz ASICS DSP用于信号处理
4096 通道 MCA
64 MB 系统内存/128 MB 用户内存
显示器固定式彩色触摸屏
数据存储内部超过10，000组读数和图谱
数据传输 USB，蓝牙和串行通讯接口RS-232
安全保护密码保护
数据录入触摸屏界面
模式（根据应用范围）合金模式:电子合金
塑料模式:RoHS塑料,玩具和消费品塑料,TestAllTM,涂层产品
定制模式:根据要求(基于应用可行性)
标准配件
带锁防护携带箱
保护皮带套
两个6-cell锂电池组
110/220 VAC电池充电器/交流电变压器
电脑连接线（USB和RS-232）
Niton数据转换（NDT○c）电脑软件
安全系带
校准样品
选配功能和配件 Thermo Scientific 便携式测试支架，固定（桌上型）测试支架，移动测试支架
注册/许可根据所属区域联系当地经销商
符合标准 CERoHSEN71-3CPSIA H.R 4040

主要特点：

LOD(最低检测极限)
最低检测限（LODs）是通过数据可靠性的合理度可测得的元素的最小浓度。检测极限严格遵循美国环境保护署（U.S.EPA）99.7%的可信度标准。最低检测限的参考变量随着检测时间的函数平方根提高。
表1和表2中的检测限基于180秒的总检测时间，120秒的主滤光片和60秒的低滤光片。所有检测限以PPM为单位，除非另外说明。
表1为使用Niton XL2 700系列分析仪检测特殊金属基体时的最低检测限，基体密度直接影响检测限。
时间 120秒主滤光片/60秒低滤光片

基体	Al	Fe	Cu	Zn	Sn
Ba	50	240	390	440	2540
Sb	20	80	130	150	480
Cd	10	40	70	80	270
Pb	10	60	70	90	90
Br	20	80	140	1360	130
Se	10	20	30	120	30
Hg	10	70	110	1560	70
Cr	170	110	130	200	80

表1：Niton XL2 700系列分析仪检测金属基体中EN71-3法规设限元素的最低检测限
由于FP参数法集成特殊的基体识别计算程序和厚度校正，Niton XL2无须用户输入，便可准确分析PE塑料，PVC塑料和ABS热塑材料。仪器会自动补偿不同基体并针对该样品选择最准确的校正法，实现对于聚合物样品简单，有效的消费品检测。
表2为使用Niton XL2 700系列分析仪检测特殊聚合物基体时的最低检测限，基体密度直接影响检测限。
时间 120秒主滤光片/60秒低滤光片

基体	PE	PVC
Ba	160	N/A
Sb	40	40
Cd	20	20
Pb	10	10
Br	10	10
Se	10	10
As	10	10
Hg	10	20
Cr	20	60
Cl	480	N/A

表2：Niton XL2 700系列分析仪检测聚合物基体中EN71-3法规设限元素的最低检测限
* 影响最低检测限（LODs）的几种因素：测试时间、元素干扰/基体、统计学单位
Niton XL2 700分析仪，价值之选，不必以牺牲性能为代价，您将获得一款轻便，坚固的手持式分析仪，适用于大多数应用范围。Niton XL2提供方便应用的客户定制菜单，多种语言支持和超过25种元素的标准分析范围。

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技术创新

TestAll 系统模式该项特殊功能允许非技术人员自动识别基材或样品表面的铅含量。 CCD彩色摄像头选配内置彩色CCD摄像头和样品成像系统帮助用户直观地分析，定位，叙述并同时储存元素分析结果和分析区域图像。便携式检测支架多种选配支架，可折叠、便于运输支架，提供可检测小样品和不规则样品、袋装和杯状样品的安全平台的支架。机载RFID（射频识别）技术自动校正分析仪参数供测试支架应用。

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