电化学扫描显微镜(SECM)发明于1989年并获得美国专利。CHInstruments与UniversityofTaxesatAustin的化学系的AllenJ.Bard教授合作实现了电化学扫描显微镜的仪器商品化，从而使得这一强有力的研究方法走进了更多的实验室。

扫描电化学显微镜与扫描隧道显微镜(STM)的工作原理类似。但SECM测量的不是隧道电流，而是由化学物质氧化或还原给出的电化学电流。尽管SECM的分辨率较STM低，但SECM的样品可以是导体，绝缘体或半导体，而STM只限于导体表面的测量。SECM除了能给出样品表面的地形地貌外，还能提供丰富的化学信息。其可观察表面的范围也大得多。

在SECM的实验中，探头先移动到非常靠近样品表面，然后在X-Y的平面上扫描。探头是双恒电位仪的第一个工作电极。如果样品也是导体，则通常作为第二个工作电极。探头的电位控制在由传质过程控制的氧化或还原的电位。而样品的电位被控制在其逆反应的电位。由于探头很靠近样品，探头上的反应产物扩散到样品表面又被反应成为原始反应物并回到探头表面再作用，从而造成电流的增加。这被称为＂正反馈＂方式。正反馈的程度取决于探头和样品间的距离。如果样品是绝缘体，当探头靠近样品时，反应物到电极表面的扩散流量受到样品的阻碍而造成电流的减少。这被称为＂负反馈＂方式。负反馈的程度亦取决于探头和样品间的距离。探头电流和探头与导体或绝缘体样品间的距离的关系可通过现有理论计算得到。

基于以上特性，SECM已在多个领域发现了许多应用。SECM能被用于观察样品表面的化学或生物活性分布，亚单分子层吸附的均匀性，测量快速异相电荷传递的速度，一级或二级随后反应的速度，酶-中间体催化反应的动力学，膜中离子扩散，溶液/膜界面以及液/液界面的动力学过程。SECM还被用于单分子的检测，酶和脱氧核糖核酸的成像，光合作用的研究，腐蚀研究，化学修饰电极膜厚的测量，纳米级刻蚀，沉积和加工，等等。SECM的许多应用或是其他方法无法取代的，或是用其他方法很难实现的。

电位范围：10V
槽压:12V
电流范围:250mA
参比电极输入阻抗:11012欧姆
三电极或四电极
灵敏度:110-12-0.1A/V共12档量程
电流测量分辨率:<0.01pA
外部信号记录通道
最高数据采集速率:1,000,000Hz
模数转换器分辨率:16位
CV和LSV扫描速度:0.000001–5,000V/s
电位扫描时电位增量：0.1mV@1,000V/s
CA和CC脉冲宽度:0.0001-1,000sec
CC可采用模拟积分器
CA和CC阶跃次数:1-320
DPV和NPV脉冲宽度:0.0001-10sec
SWV频率:1-100,000Hz
ACV频率:0.1-10,000Hz
SHACV频率:0.1-5,000Hz
IMP频率:0.00001-100,000Hz(在一定的阻抗范围可达1MHz)
自动和手动iR降补偿
低通滤波器覆盖8个数量级的频率范围，自动或手动设置
RDE控制信号输出
双通道测量适用于CV,LSV,CA,DPV,NPV,SWV,i-t
Flash存储器允许e-mail软件更新
串行口或USB口通讯
循环伏安法数字模拟器(任意反应机理)
交流阻抗数字模拟器和拟合器
电解池控制输出:通氮，搅拌，敲击
最大数据长度:128000点-4096000点可选择

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