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最新产品 > 化学分析仪器 > X射线仪器 > X光电子能谱仪>Shimadzu 高性能成象X射线...
更新时间：2024-12-19 16:57:41 点击：5062次
| 产品型号 | AXIS-ULTRA DLD型 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 X光电子能谱仪 |
| 品牌 | 返回顶部 Shimadzu |
| 产地 | 返回顶部 英国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 能量分辨率 | 返回顶部 优于 0.45eV（Ag 3d5/2） |
| 空间分辨率 | 返回顶部 优于3μm |
| 其他信息 | |
| 产品简介 | 标准主机包含单色化Al Kα X射线源和Mg/Al Kα双阳极非单色化X射线源，可实现大面积XPS分析、小面积XPS分析和ISS分析以及XPS快速平行成像等功能。兼容多种其它表面分析技术，如 AES/SAM、UPS，并可增加各类样品制备装置 。 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 |
●业界最大功率的600W单色化Al Kα X射线源，确保最高的分析灵敏度。 ●平均半径165mm的双层能量分析器，确保高能量分辨XPS分析和高空间分辨的XPS成像 ●专利的浸入式磁透镜技术，大幅度提高分析灵敏度 ●专利的快速平行X光电子实时成像，空间分辨率优于3μm，最高像素65,536（256×256），可进行微区元素和化学态空间分布分析 ●专利的二维阵列延迟线检测器（Delay-Line Detector），同时记录光电子的强度和发射位置，可实现在数秒钟之内获得高能量分辨XPS谱 ●专利的同轴超低能无阴影单电子源荷电中和器，完美解决绝缘体XPS分析 ●全自动5轴常中心样品台，实现全自动角分辨XPS分析 ●最佳能量分辨率优于 0.45eV（Ag 3d5/2） ●常规分析能量分辨和灵敏度高达0.55eV@1.1Mcps（Ag 3d5/2） ●绝缘体分析的分析能量分辨和灵敏度高达0.68eV@16kcps（PET的C 1s） ●选配单色化Al/Ag双阳极X射线源，实现高能XPS分析 ●结合了数据采集和数据处理的Vision软件，可运行于Windows XP/Vista/7等多种平台下，实现各真空室真空度实时显示，操控真空阀门开关，实验条件设定和全自动无人值守分析等强大功能 返回顶部 |
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