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最新产品 > 化学分析仪器 > 质谱仪 > 二次离子质谱>Kore 二次离子飞行时间质谱 Su...
更新时间：2024-12-21 03:50:56 点击：22246次
| 产品型号 | SurfaceSeer |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 二次离子质谱 |
| 品牌 | 返回顶部 英国Kore |
| 产地 | 返回顶部 英国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
由 Kore 公司设计并制造的一款新的紧凑型 TOF-SIMS 仪器，为工业用户提供了一种强有力的表面分析工具，其费用大约是高端研究型仪器的五分之一。该仪器有正离子和负离子 TOF-SIMS 两种模式，质量分辨率为1000，质量准确度为±10 毫amu。 概述 最初，有一些工程师和科学家对现有的商品化SIMS仪器不满意，于是，Kore 的TOF-SIMS应运而生，其目的是使仪器易于使用并能快速采集数据。他们很清楚，表面分析对开发产品非常有益，但他们并不是从纯理论的学术界来的，因 为他们既难以申请到研究经费也不想浪费有限的研究时间。他们的主要目的是快速高效的分析样品，并获得样品或产品表面化学方面特殊问题的答案。 SurfaceSeer 正是为这类客户而设计的。 Kore 一直以来都致力于研发“低成本”飞行时间质谱仪（TOF-SIMS），如几年前开发的知名仪器 MS-1000。SurfaceSeer 是由之前的仪器发展而来，但拥有更强的分析能力。 样品被置于在一个小体积的密封室内，并在 5 分钟内被真空泵降压至操作压力，然后向前做简单推动并90°旋转，样品便进入样品分析室。 聚合物和复合材料的典型分析时间为 1-2 分钟，之后便获得一个有 50 万计数 (信号) 的质谱图（聚合物分析时间取决于样品种类，越易产生信号的样品，如：金属或半导体，信号率越大）。 5kV 的气体离子枪具有扫描功能，外加一个具备成像能力的二次电子探测器和成像软件/硬件模块。通常，脉冲探针在 400 μm 到 1 mm 之间变化，可快速获得数据（高电流）。样品放在样品固定器内，以便被分析的样品面积正好在一个直径为 6mm 的盖板中心位置。 不象研究型 TOF-SIMS 仪器，SurfaceSeer 的分光计调谐都在电子装置里预设了，样品到样品的调谐简化为电压调节，实时反馈最大计数率。
仪器详细介绍
延迟提取
仪器还采用了 “延迟提取” 技术以更好的获得二次离子的分辨率。在这个技术中，初级离子对表面进行轰击，产生具有分析作用的重要二次离子。在初级离子束轰击样品表面完成后很短时间 内，离子提取场脉冲开启。 结果不仅提取了二次离子，还在二次离子从分析器到检测器的运动过程中对其进行了浓缩富集。某些TOF-SIMS仪器是把初级离子束被压缩或“成束”，但我 们的仪器是将二次离子成束的。“延迟提取” 技术是为了相同质荷比的二次离子能瞬间聚焦，以便得到更好的质量分辨率，而这些都是长时间初级离子脉冲做不到的。 电荷中和
使用脉冲离子束和延迟提取相结合的好处之一是，当没有离子场时，每个 TOF 周期会比较长。在此期间，低能量（30eV）的脉冲电子直接进入分析区域，中和绝缘体表面聚集的正电荷。这些正电荷是初级离子束轰击绝缘体表面时所产生的。
TOF 分析器 仪器带有一个 150 mm 直径的反射器，总有效飞行距离为 2 米（包括飞行管的长度）。 这是一个具有高真空精密电阻的双斜率反射器，并具有可调 “延迟” 电势，是为最佳光谱性能而设的反射器。 真空泵
仪器用一个单机架固定式真空控制器来控制真空系统。 涡轮分子泵用于维持分析室和真空进样室的真空，每个都由二级旋转泵支撑。
真空进样室的排出.真空进样室和泵取，都是通过控制器上的一键式按钮实现的。高真空表（逆向磁控管）时时监测分析室的压力，用于真空联锁保护，如果压力高
于设定值，将关停高电压。
扩展功能目前仪器可以增加以下功能： 1. 带多样品固定器的线性运动平台允许在每次进样时进行多样品分析 2. 外照明光学显微镜/照相机 3. 成像 SIMS 带有 SED 探测器/ PC卡和升级版本软件 4. 能在真空进样室处理样品
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| 技术创新 |
SurfaceSeer是一款静态二次离子质谱，一次离子量较少，每次一次离子都轰击一个新的位置，有限数量的二次离子从样品表面被激发出来，使我们获得有效的分子信息；同时采用了TOF检测器，平行检测和离子传送效率高，因此可以得到更多信号 返回顶部 |
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