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最新产品 > 物理分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜>英国牛津 扫描微波阻抗显微镜 Sca...
更新时间：2024-12-18 07:09:32 点击：4289次
| 产品型号 | Scanning Microwave Impedance Microscopy |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 扫描电镜 |
| 品牌 | 返回顶部 牛津仪器 |
| 产地 | 返回顶部 英国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 | 扫描微波阻抗显微镜（sMIM）是AsylumResearch公司MFP-3DTM和Cypher STM原子力显微镜产品上独有的一种进行高分辨电学表征的新技术。sMIM能够精确的探测材料微纳区域内电容和电阻的变化，能够广泛的应用各种线性和非线性的导体材料，半导体材料以及绝缘体等。和其它类似的技术相比，sMIM的横向分辨率更高(<50nm)；更灵敏的信噪比，即便是以80倍于同类技术的速度进行扫描时，其信噪比仍然高出其它技术十倍以上；此外sMIM技术中的测试功耗也要远低于同类技术。sMIM是基于PrimeNano公司的专利探针和电路系统开发而成。AsylumResearch 原子力显微镜是唯一拥有sMIM技术的原子力显微镜。 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 |
· 更多的信息 – DC 电容, DC 电阻, dC/dV,和 dR/dV · 更高的灵敏度 –比同类技术高十倍以上 · 更高的横向分辨率 – 小于 <50nm · 更快的成像速度 –扫描速度比同类技术高80倍 · 更广泛的适用范围 –导体, 半导体和绝缘体 返回顶部 |
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