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最新产品 > 物理分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 原子力显微镜>日本SII NanoNavi扫描探针显...
更新时间：2024-12-17 18:53:41 点击：872次
| 产品型号 | NanoNavi系列 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 原子力显微镜 |
| 品牌 | 返回顶部 SII |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
1.可轻松的完成以往难以测定的高侧面比深槽的样品的测定 搭载本公司独自开发SIS模式、可以实现对以前很难测定的，开口很小的(50nm以下)样品和测面比高的样品等深槽和狭小槽的测定。如运用SIS模式和纳米碳管探针，其威力更是倍增。 闭环扫描器，彻底消除由滞后及蠕变现象造成的成像失真现象、大大提高了微区测量·微区加工的精度。做为标准配置，L-trace搭载了这种环状扫描器。做为选项配置，闭环扫描器也可用于其它的机种。 2.搭载测定导向功能，大大提高了操作的简便性 搭载探针自动切换功能，降低由于误操作而引起的探针损坏机率，提高操作效率。 精工纳米电子科技公司独自开发的操作导向系统，从设备准备到数据的保存印刷，准确地指导操作者完成各项操作。即使第一次上机操作，也可以轻松得进行测定。 3.丰富的自动测定功能 依据菜单测定功能，可以实现扫描范围内的多点自动测定。 常规的测定、重复的测定条件、繁琐的测定等，从颜色的调整到绘图的处理、解析、印刷都可简单得自动处理。 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 |
SIS模式——最适合高起伏样品，减少探针磨损 测定更准确——闭环扫描器 操作更简单——测定导航功能 分析更方便——多点自动测定，自动解析功能 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
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