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最新产品 > 物理分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 原子力显微镜>日本SII 高精度大样品台...
更新时间：2024-12-15 12:02:04 点击：5127次
| 产品型号 | L-trace |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 原子力显微镜 |
| 品牌 | 返回顶部 SII |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
滞后、蠕变影响小的闭环扫描器搭载。配合新功能SIS扫描模式及钠米碳管探针，即使是高段差的样品也可以准确的测定。标准配置的6英寸的大型样品台（8英寸样品台可选）。 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 |
1.滞后、蠕变影响小的闭环扫描器搭载。测定部分的移动或是扫描方向的旋转之后，也可以得到正确的画像。 2.新功能SIS模式配合钠米碳管探针，能够正确的测定以往不易测定的急、陡断面的样品。 3.标准装配6英寸大型样品台，可对150mmφ的样品全面的观察。（200mmφ样品台为可选） 4.搭载探针自动更换功能，测定导向功能。 5.登录模式可实现自动测定，可设定最大20个测定点及各自测定条件下的自动测定。最适合重复的测定。 |
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