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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 激光测厚仪>美国Filmetrics 薄膜测厚仪F20

更新时间:2024-05-16 03:01:25 点击:2136次

产品型号 F20
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 激光测厚仪
品牌 返回顶部 美国Filmetrics
产地 返回顶部 美国
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技术参数
其他信息
产品简介 F20是我们的通用台式仪器。它们在全世界被用于几千种用途。厚度和折射率在几秒钟内就能得到测量。就像我们所有的台式仪器一样,F20需要连接到您装有Windows计算机的USB端口上并在数分钟内即可完成设定。
不同的F20膜厚测量仪主要是根据波长范围来加以区分的。标准的F20是我们最为普遍的产品。较短的波长,(例如F20-UV),一般用于测量较薄的薄膜,而较长的波长(例如,F20-NIR),则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。
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