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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 激光测厚仪>美国Filmetrics 薄膜测厚仪F20
更新时间:2024-11-12 13:44:29 点击:2179次
产品型号 | F20 |
---|---|
参考报价 | 返回顶部 面议 |
基本规格 | |
产品类型 | 返回顶部 激光测厚仪 |
品牌 | 返回顶部 美国Filmetrics |
产地 | 返回顶部 美国 |
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技术参数 | |
其他信息 | |
产品简介 |
F20是我们的通用台式仪器。它们在全世界被用于几千种用途。厚度和折射率在几秒钟内就能得到测量。就像我们所有的台式仪器一样,F20需要连接到您装有Windows计算机的USB端口上并在数分钟内即可完成设定。 不同的F20膜厚测量仪主要是根据波长范围来加以区分的。标准的F20是我们最为普遍的产品。较短的波长,(例如F20-UV),一般用于测量较薄的薄膜,而较长的波长(例如,F20-NIR),则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。 返回顶部 |
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