仪器简介：

M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）以上的所有元素。

分析的样品类型：各种不同的材料，如金属、合金、金属镀层包括多层镀层样品。样品尺寸最大可达100×100×100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测。光管位于样品上方，测量过程中不接触样品，因此可以很容易地分析复杂式样的样品，如精工细作的珠宝或不同厚度的样品。

仪器参数：

M1 MISTRAL根据所配探测器不同分为二种型号：正比计数器（PC）型和高分辨的硅漂移探测器（SDD）型
激发源:高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗                                         
电压及功率:40 kV, 40 W                                                                                 
探测器:大面积正比计数器，1100 mm²感应面积                              
光斑尺寸:准直器交换器，0.3 mm或以上                                               
样品观察：高分辨彩色摄像系统，放大倍数20-40倍                                
样品台：马达驱动Z方向样品台，自动对焦。                                       
          选项：马达驱动X-Y-Z样品台，自动对焦，便捷进样功能
块状样品：基于标样的经验系数法模型和无标样模型       
镀层分析：基本参数法模型                                                    
电源：110 to 230 V AC; 50/60 Hz, 最大功率100 W                         
尺寸：（宽x深x高）550 x 700 x 430 mm                                                           
重量：46 kg    
 

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