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更新时间:2024-12-18 02:01:39 点击:233次
产品型号 | M4 TORNADO |
---|---|
参考报价 | 返回顶部 面议 |
基本规格 | |
产品类型 | 返回顶部 X射线荧光光谱仪 |
品牌 | 返回顶部 布鲁克 |
产地 | 返回顶部 德国 |
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技术参数 | |
电源 | 返回顶部 110-240V(1P),50/60Hz |
仪器重量 | 返回顶部 130kg |
仪器尺寸 | 返回顶部 815×680×580mm |
能量分辨率 | 返回顶部 计数率250,000cps时分别优于125eV、135eV |
其他信息 | |
产品简介 |
仪器简介:微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。采用多导毛细管聚焦镜将激发光聚焦到非常小的区域,以获得极佳的空间分辨率,进行快速分析。任何类型的样品都可以通过简单的样品制备甚至不制备直接进行分析。 仪器参数: 样品类型:固体、颗粒、液体、多层膜 |
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应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
技术创新 | M4 TORNADO采用了全新的技术,为各种用户提供了最佳的分析性能和非常方便的操控性。 采用多导毛细管聚焦镜,照射光斑最小,空间分辨率最高。 涡轮增速X-Y-Z样品台,借助放大倍数可变的摄像系统获得高品质的样品影像,可在“飞行中”进行元素分布分析。 高强度的X射线光管与多导毛细管聚焦镜相结合,确保在非常小的照射区域内获得非常高的激发强度。采用滤光片和可以同时使用的配有不同靶材的双光管,可以根据不同的分析要求,优化激发光谱。 使用XFlash®探测器超高速地获取样品图谱,另外,使用多个探测器可以进一步提高测量速度。 采用无标样分析法精确定量分析块状样品,精确分析多层膜样品。 可抽真空的样品室配有自动门,大尺寸的样品室可以放置各种尺寸的样品。通过两个放大倍数可变的摄像系统观察样品(整体观察和分析区域的细致观察),便捷进样功能和自动对焦功能可以进行快速而精确的定位。通过用户编辑的X-Y-Z样品台运行程序可实现重复测量。 返回顶部 |
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