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最新产品 > 化学分析仪器 > X射线仪器 > X射线荧光光谱仪>美国Cianflone X射线荧光光谱仪 2...

更新时间:2024-12-20 07:48:10 点击:367次

产品型号 2501 XBT型
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 X射线荧光光谱仪
品牌 返回顶部 美国Cianflone
产地 返回顶部 美国
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技术参数
元素分析范围 返回顶部 Ti-Ag , Ba-U
其他信息
产品简介

仪器简介:

涂层测厚:

 

portaspec是理想的离线和在线测厚仪,是美国ASTM金属基层处理涂层测厚检验标准(D5723-95)中唯一推荐仪器。

 

portaspec可测量铁基锡层、锌层及锰层、锌铁基铬层、铝基氧化铁层、铬层等。广泛应用于各种金属板材、汽车轮毂、计算机硬盘、硬币、纸张及塑料薄板等领域。

 

探测厚度范围:0.006-0.05毫米

 

元素分析:

 

portaspec可快速准确地分析某一元素的含量,给出用户所需的任何数值单位。是理想的实验室、工厂工艺和质量检测仪器。

 

通过对某一关键元素的测量与控制,可以有效地控制产品质量。如:玻璃制造,对硅砂及成品中铁元素含量的测量;建筑材料,对聚苯保温材料中铁元素含量的测量。铁元素的含量直接影响上述产品性能。

 

portasjpec可直接用于成型材料的元素分析;如:各种铸件、管材、棒材、板材等,无须样品制备。

 

portaspec是理想的移动实验室仪器,可装入中型汽车,配备一台便携式发动机,可用于矿山、野外现场元素分析。

 

合金鉴别

 

portaspec可用于黑色及有色金属的原料及成品的等级分类,是质量控制的有效工具。

 

portaspec可用于化工厂设备安装工程,对各类合金管道进行现场分类鉴别,从而避免管道的错误安装。

 

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应用范围 返回顶部此仪器尚未有相关应用
用户数 返回顶部 此仪器尚未有用户数
技术创新 元素分析范围: Ti-Ag , Ba-U 可测量铬和钛预处理 荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便; 包括安装简单的双位样品池支架 可进行单元素或多元素顺序分析 分析样品不被破坏,分析快速,准确,便于自动化; 包括触摸屏笔记本电脑 Windows系统软件控制
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1楼:个人(Brooke)
分析样品不被破坏,分析快速,准确,便于自动化
评论于:2013-03-08 15:49:49