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更新时间:2025-02-22 06:39:41 点击:255次
产品型号 | ARTAX |
---|---|
参考报价 | 返回顶部 面议 |
基本规格 | |
产品类型 | 返回顶部 X射线荧光光谱仪 |
品牌 | 返回顶部 布鲁克 |
产地 | 返回顶部 德国 |
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技术参数 | |
检测器 | 返回顶部 第四代XFlash®SDD硅漂移 |
元素分析范围 | 返回顶部 11Na-92U |
其他信息 | |
产品简介 | 返回顶部 |
应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
技术创新 | 对材料的结构和组成进行非破坏性的微区多元素分析,分析元素范围11Na-92U,空间分辨率达到70微米。 第四代XFlash®SDD硅漂移探测器,采用帕尔贴冷却技术,不需要液氮,没有任何消耗。分辨率优于165eV at MnKa 100Kcps。优于145eV分辨率探测器可选。 灵活的设计,样品检验时可以不受空间、样品尺寸限制。X-Y-Z 三维自动定位跟踪样品台,防碰撞保护,可以自动完成点、线、面扫描功能。 配有各种靶材的低功率X射线光管、CCD相机、微聚焦多孔毛细管镜、XYZ样品台、激光定位系统。 微聚焦多孔毛细管镜与准直管相比强度提高1000倍以上。 根据应用要求不同,可提供多种配置。 应用:文物保护、文物修复、考古、艺术品、笔迹鉴定、书画、刑侦、材料研究、电子、汽车、航空航天等领域。 返回顶部 |
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