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最新产品 > 化学分析仪器 > X射线仪器 > X射线荧光光谱仪>岛津 能量散射型微区X射线荧光光...

更新时间:2024-12-21 20:25:44 点击:380次

产品型号 μEDX-1200/1300/1400
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 X射线荧光光谱仪
品牌 返回顶部 日本岛津
产地 返回顶部 日本
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技术参数
检测器 返回顶部 Si(Li)半导体检测器
种类 返回顶部 固体、液体、粉体   
元素分析范围 返回顶部 Na~U
其他信息
产品简介

仪器简介:μEDX大幅度地提高了传统的X射线荧光光谱仪无法完成的微小领域分析的灵敏度。配备新开发的X射线集束毛细管透镜,实现了最小分析直径达50μm的微区测定,适合半导体/电子部件/食品领域等高灵敏度、高分辨率分析。

技术参数:

●测定原理 x射线荧光分析发法     
●测定方法能量散射型         
●测定对象固体、液体、粉体      
●测定范围13AI~92U(μEDX-1200)    
     11Na~92U(μEDX-1300)    
     13AI~92U(μEDX-1400)
●x射线管 Rh耙
●检测器Si(Li)半导体检测器(μEDX-1200,1300),Si漂移半导体检测器(μEDX-1400)
●样品形状最大150mmх150mmх40mmH

 

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技术创新 · 采用岛津独创的X射线聚光透镜[集束毛细管透镜],X射线只照射样品的50μmφ微小领域,实现高灵敏度、高精度分析。 · 可以在大气中进行从轻元素到重元素(Na~U:μEDX-1300;Al~U:μEDX-1200/ 1400)的分析。 · 配备双CCD(高倍率,低倍率)摄像头,可以在观察样品图像的同时方便地决定分析位置,进行分析。 · 标准配备无标样定量FP法、薄膜成分/膜厚分析用的薄膜FP法以及可以测定聚合物薄膜的背景基本参数(BG-FP)法。 · 作为微区X射线荧光光谱分析装置,在世界上率先配备了5种1次X射线滤光片自动交换机构,可消除来自X射线管的特征X射线,提高信噪比。 · 配备多元素同时/自动扫描成图功能。采用高速扫描成图,在短时间内便可获得图像(μEDX-1200/1300)。追加透射观察单元(选购),也可进行透射X射线的同时测定。 · 配备电子冷却式高计数率检测器。无需液氮,可进行高精度分析。(μEDX-1400) · 可轻松地进行电子材料/部件的镀层膜厚測定、异物检测、失效解析及成图分析。
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1楼:个人(zhouchz)
高灵敏度、高分辨率
评论于:2013-03-07 12:16:53