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更新时间:2025-02-20 13:35:11 点击:507次
产品型号 | SPECTRO MIDEX |
---|---|
参考报价 | 返回顶部 面议 |
基本规格 | |
产品类型 | 返回顶部 X射线荧光光谱仪 |
品牌 | 返回顶部 德国斯派克 |
产地 | 返回顶部 德国 |
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技术参数 | |
检测器 | 返回顶部 Peltier 冷却的Si 漂移检测器 |
温度适应范围为 | 返回顶部 5-30°C (41-85°F) |
其他信息 | |
产品简介 |
仪器简介:在工业及科研领域,经常需要对样品进行非破坏性的元素分析,同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求,如RoHS分析,贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度,非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO MIDEX X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求,可最迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求,德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化,使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。 技术参数: |
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应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
技术创新 | SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是最新推出的第三代专利产品,不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定,还可对超大样品的表面(面积可达EC标准线路板规格的2倍, 233x160 mm)进行元素分布分析。 创新点: 1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线,集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制,代表性强,实用性强,准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量。 2.采用高分辨,高计数率,电制冷的SDD检测器,实际分辨率160eV,计数率高达250,000cps,非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单,无需繁琐而危险的液氮添加过程。 3.激光配合CCD摄像机双定位,样品分析点可视,可调。定位精度高。分析点的照片可截屏,出具报告时可以粘贴在报告中。 4.分析速度快,可在180秒内完成各类样品的分析任务。 5.可选配狭缝交换器,测试点的尺寸可调,由0.2毫米至3.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分,一般分析点的尺寸为1毫米。 6.可选配XYZ微米级精度全自动样品台,完成点,线,面扫描。一次测量过程可同时分别完成多个样品的分析。 7.超大样品室,可完成超大样品的分析,样品的尺寸可以达到300*200*150mm(长*宽*高)。同时可完成超小样品1mm样品的分析。 返回顶部 |
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