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最新产品 > 计量仪器 > 表面测量仪器 > 轮廓仪/粗糙度仪>Bruker 探针轮廓仪 Dektak 8
更新时间：2024-12-17 21:46:03 点击：269次
| 产品型号 | Dektak 8 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 轮廓仪/粗糙度仪 |
| 品牌 | 返回顶部 Bruker |
| 产地 | 返回顶部 美国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 最大晶圆尺寸 | 返回顶部 200mm |
| 垂直范围 | 返回顶部 标配262um；可选1mm |
| 测量重复性 | 返回顶部 7.5Å,1σ在1um标准台阶上 |
| 最大样品厚度 | 返回顶部 25.4mm （1 in.) |
| 扫描长度 | 返回顶部 标配最大50mm |
| 单次扫描最大数据点 | 返回顶部 最多可达60，000数据点 |
| 最大垂直分辨率 | 返回顶部 1Å (6.55微米垂直范围下） |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
Dektak 8台阶式探针轮廓仪，结构紧凑，可提供很高的重复性和精度。独特的X–Y方向定位系统可移动到8 x 8 inch区域的任何位置。 它不仅能测量台阶高度和表面纹理，还能测量金属蚀刻速率的均匀性、焊点高度、纤维光学元件和显微透镜。全程程序控制的Dektak 8系统对于MEMS， 纳米技术和半导体应用都非常方便。 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 1. 台阶高度测量重复性高 2. 是功能最为强大的探针轮廓仪，可最大限度的满足各种应用需要 3. 简单易用 4. 作为一款桌面型轮廓仪，扫描范围可达200mm 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
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| 相关耗材和配件 | 此仪器尚未有相关耗材和配件 返回顶部 |
| 相关仪器 | 返回顶部 此仪器尚未有相关仪器 |
| 网友评分 |
评分：
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