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最新产品 > 计量仪器 > 表面测量仪器 > 轮廓仪/粗糙度仪>美国AEP 光学双模式轮廓仪 NANOM...
更新时间:2024-12-20 15:25:16 点击:386次
产品型号 | NANOMAP D |
---|---|
参考报价 | 返回顶部 面议 |
基本规格 | |
产品类型 | 返回顶部 轮廓仪/粗糙度仪 |
品牌 | 返回顶部 美国AEP |
产地 | 返回顶部 美国 |
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技术参数 | |
其他信息 | |
产品简介 |
美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。 |
应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
技术创新 | 多种测量功能 精确定量的面积(空隙率,缺陷密度,磨损轮廓截面积等)、体积(孔深,点蚀,图案化表面,材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等)、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。 薄/厚膜材料 薄/厚膜沉积后测量其表面粗糙度和台阶高度,表面结构形貌, 例如太阳能电池产品的银导电胶线 蚀刻沟槽深度, 光刻胶/软膜 亚微米针尖半径选件和埃级别高度灵敏度结合,可测量沟槽深度形貌。 材料表面粗糙度、波纹度和台阶高度特性 分析软件可轻易计算40多种的表面参数,包括表面粗糙度和波纹度。计算涵盖二维或三维扫描模式。 表面光滑度和曲率 可从测量结果中计算曲率或区域曲率 薄膜二维应力 测量薄膜应力,能帮助优化工艺,防止破裂和黏附问题 表面结构和尺寸分析 无论是二维面积中的坡度和光滑度,波纹度和粗糙度,还是三维体积中的峰值数分布和承载比,本仪器都提供相应的多功能的计算分析方法。 缺陷分析和评价 先进的功能性检测表面特征,表面特征可由用户自定义。一旦检测到甚至细微特征,能在扫描的中心被定位和居中,从而优化缺陷评价和分析。 返回顶部 |
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