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最新产品 > 计量仪器 > 表面测量仪器 > 轮廓仪/粗糙度仪>AEP Technology 探针式轮廓仪 NA...
更新时间：2025-02-20 07:56:14 点击：323次
| 产品型号 | NANOMAP 500LS |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 轮廓仪/粗糙度仪 |
| 品牌 | 返回顶部 AEP Technology |
| 产地 | 返回顶部 美国 |
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| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪，既有高精密度和准确度的局部（Local）SPM扫描，又具备大尺度和高测量速度；既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌，又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸，诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等，并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理，在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学，工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。 |
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